[实用新型]太阳能电池晶硅硅片隐裂检测分选装置有效
申请号: | 201320348085.3 | 申请日: | 2013-06-18 |
公开(公告)号: | CN203337560U | 公开(公告)日: | 2013-12-11 |
发明(设计)人: | 史大健;陈军;朱君兰;朱琛;赵福祥;李秉喆;洪定義 | 申请(专利权)人: | 韩华新能源(启东)有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/94;G01N21/25 |
代理公司: | 南通市永通专利事务所 32100 | 代理人: | 葛雷 |
地址: | 226200 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 硅片 检测 分选 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种太阳能电池晶硅硅片隐裂检测装置。
背景技术
晶硅硅片的质量对太阳能电池片的电性能非常重要,或者说在工艺日趋成熟的大规模太阳能电池片生产过程中,晶硅硅片的质量直接决定了太阳能电池片的电性能。近年来,光伏产业发展迅猛,提高效率和降低成本成为整个行业的目标。随着晶体硅硅片的薄片化发展,一方面,晶硅硅片的价格及生产线运营成本大大降低,而另一方面,硅片薄片化也带来了许多严重的问题,如碎片、电池片隐裂、电极不良等,正是这些缺陷限制了电池片的光电转化效率和使用寿命。而由于没有完善的行业标准,硅片质量也是参差不齐,一些缺陷片的存在直接影响到组件乃至系统的稳定性。同时,晶硅硅片的价格降低,提高了电池片生产工艺的运营成本所占比例,对太阳能晶硅硅片的检测要求也越来越高。
晶硅硅片隐裂检测对于硅片、电池、组件都具有重要的意义。目前、晶硅硅片裂纹、隐裂大多是依靠人工目视检测,不仅不能检测出小的隐裂、漏检率很高,而且人工检测会对晶硅硅片造成玷污、新的隐裂等潜在风险。现有的硅片分选检测设备中的红外隐裂检测方式会受到境界的影响,从而降低了检测的准确性,容易产生误判;而另一种新的隐裂检测激光成像系统也会因为碳化硅硬质点和硅片边缘造 成误判。因此,新的隐裂检测装置和方法对于减少晶硅硅片检测中的漏判、减少继续生产产生的成本显得非常重要。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种隐裂检测准确率高的太阳能晶电池硅硅片隐裂检测分选装置。
本实用新型的技术解决方案是:
一种太阳能电池晶硅硅片隐裂检测分选装置,其特征是:包括检测太阳能晶电池硅硅片外观、玷污的检测单元,在检测太阳能晶电池硅硅片外观、玷污的检测单元后设置红外光谱隐裂检测单元和基于激光成像原理的隐裂检测单元。
红外光谱隐裂检测单元在基于激光成像原理的隐裂检测单元前,或在红外光谱隐裂检测单元在基于激光成像原理的隐裂检测单元后,红外光谱隐裂检测单元、基于激光成像原理的隐裂检测单元与微机控制系统连接。
本实用新型结合两种不同原理的隐裂检测成像系统,在晶硅硅片分析筛选设备上整合两种隐裂检测模块对太阳能电池晶硅硅片隐裂缺陷进行检测分选。新的晶硅硅片隐裂检测装置包括上述两个隐裂检测模块,两检测单元在晶硅硅片分选设备的其它检测单元后依次排列,并和其它检测单元一起与微机控制系统连接,实现对太阳能电池晶硅硅片隐裂缺陷的在线检测和分析筛选。
本实用新型所涉及检测装置在市场上现有晶硅硅片检测设备上整合红外光谱隐裂检测模块和基于激光成像原理的隐裂检测模块,在 原太阳能电池晶硅硅片检测设备上实现隐裂检测功能、并提高晶硅硅片隐裂检测的准确率,从而提高继续生产的晶硅硅片的质量、降低电池生产流程的运营成本和减少电池片碎片、漏电,以及组件承压碎片和热斑的风险。
所涉及检测方法一为红外成像检测,该检测方法易于检测出有一定宽度、较短的隐裂;检测方法二为激光影像技术,该检测方法易于检测出有一定长度、窄的隐裂纹。结合两种隐裂检测原理并使用本发明所涉及检测方法和装置,可以实现上述高准确率的晶硅硅片隐裂检测。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
图1为本实用新型装置结构示意图。
具体实施方式
一种太阳能晶硅硅片隐裂检测方法及装置,具体为使用依次固定在机架上并于微机控制系统相连的两种不同原理的隐裂检测单元进行晶硅硅片隐裂的检测和分选。下面结合实例对本实用新型做进一步说明。
-案例所用样品:
经过外观、玷污等检测的正常太阳能电池晶硅硅片
-实施例1:
一种太阳能晶电池硅硅片隐裂检测分选装置,包括检测太阳能晶电池硅硅片外观、玷污的检测单元1,在检测太阳能晶电池硅硅片外 观、玷污的检测单元后设置红外光谱隐裂检测单元2和基于激光成像原理的隐裂检测单元3。图中还有上料台4、下料台5。
红外光谱隐裂检测单元在基于激光成像原理的隐裂检测单元前,或在红外光谱隐裂检测单元在基于激光成像原理的隐裂检测单元后,红外光谱隐裂检测单元、基于激光成像原理的隐裂检测单元与微机控制系统连接。
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