[实用新型]新型PIN-TIA响应度检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及光纤通信，尤其是一种PIN-TIA响应度检测电路。

背景技术

目前，现有PIN-TIA响应度的检测方法是：用1MHZ的频率驱动特定波长的激光器，激光器发出的光经过衰减器衰减到相应的光功率值，再输入到PIN-TIA，PIN-TIA加电后用示波器观察PIN-TIA引脚D+或D-的峰-峰幅值(Vpeak)，若幅值小于给定参数，则判定不合格。现有方案的缺陷是：更换不同波长的PIN-TIA时需要更换相应波长的发射电路；衰减器比较昂贵，且衰减到相应光功率需要手工调整耗时较长；示波器比较昂贵，且读值时需要认真观测，否则误差较大。

由于以上原因，现有方案不能满足PIN-TIA大批量测试的需求。

实用新型内容

实用新型目的：本实用新型要提供一种新型PIN-TIA响应度检测电路，以解决上述问题。

技术方案：一种新型PIN-TIA响应度检测电路，包括两个或两个以上的激光器、选择器、光衰减器、升压电路、微控制单元、1:2分路器、PIN-TIA和放大整形电路；激光器的控制端均与微控制单元连接，输出端与选择器的输入端连接；选择器的输出端与光衰减器的输入端连接；光衰减器的控制端通过升压电路与微控制单元连接，输出端与1:2分路器的输入端连接；1:2分路器的一个输出端通过PIN管与微控制器连接，另一个输出端连接PIN-TIA的输入端；PIN-TIA的输出端通过放大整形电路与微控制单元连接。

所述光衰减器为MEMS VOA。所述微控制单元为C8051F350。所述升压电路包括LM2733芯片。所述放大整形电路为AD8656。所述新型PIN-TIA响应度检测电路还包括与微控制单元连接的数码管和按钮。

有益效果：本实用新型具有检验快速、准确、高效和低成本的优点，可以用于PIN-TIA的大规模测试。

附图说明

图1是本实用新型的结构框图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型的PIN-TIA响应度检测电路主要包括两个或两个以上的激光器、选择器、光衰减器、升压电路、微控制单元、1:2分路器、PIN-TIA、放大整形电路、数码管和按钮。在该实施例中，八个激光器的输入端接收1MHZ的驱动信号，控制端均与微控制单元连接，输出端与选择器的输入端连接。选择器的输出端与光衰减器的输入端连接。光衰减器为海宁华平生产的MEMS VOA，其控制端通过升压电路与微控制单元连接，其输出端与1:2分路器的输入端连接。1:2分路器的一个输出端通过PIN管与微控制器连接，另一个输出端连接PIN-TIA的输入端；PIN-TIA的输出端通过放大整形电路与微控制单元连接。微控制单元采用具有24位ADC和8位DAC的C8051F350。升压电路选取以LM2733为核心芯片,输出高压可控的电路。放大整形电路采用德州仪器的AD8656。

本实用新型的工作原理:通过按钮等输入部件向微控制单元（MCU）输入预设的待测PIN-TIA类型并确认；打开相应的激光器,并关断其他无关的激光器,通过1:8选择器将其耦合到MEMS VOA输入端；MCU调节DAC输出,控制升压电路输出电压不同的电压对应不同的出射光,经过1:2光分路器后,生成两束光功率相同的光,其中一路通过PIN管反馈给MCU ADC,经过ADC转换成数字量后和预设光功率比较,根据比较结果再次调节DAC,重复多次该过程直至输出光功率和预设光功率相同；PIA-TIA输出的峰-峰幅值(Vpeak,100mV左右)经差分放大电路放大到2.5V左右(即25倍的放大倍数),用模拟开关在峰值时采样其峰值电压并在谷值时保持,这样就将1MHZ的脉冲波形整形为直流电平,用MCU经过模数转换并经过运算后直接用数码管显示。

从上可知，该PIN-TIA响应度检测电路可以实现快速、准确、低成本地判定PIN-TIA是否合格,能够实现高效、准确和大批量的测试。本实用新型的另一个特点是减少了人为因素对测试结果的干扰。