[实用新型]一种X荧光光谱仪的样品防尘装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种光谱仪样品盒，特别是一种X荧光光谱仪的样品防尘装置。

背景技术

美国热电(Themo Fisher)公司制造的ARL9800/9900系列X荧光光谱仪广泛应用于我国冶金行业，在有色冶金特别是铝电解行业内广泛应用于电解质分析方面，由于电解质试样荧光分析主要使用粉末压片法对试样进行前期处理，制备好的试片在分析过程中，特别是加入真空状态的仪器内部时，样品盒内部空间大，容易导致试样粉尘清理不干净，从而污染仪器内部的光学精密部件，引起仪器测量误差和设备故障；同时，也直接影响分析检测数据的准确可靠性。

因此，有必要设计一种新型的X荧光光谱仪的样品防尘装置，以克服上述缺陷。

发明内容

本实用新型的目的旨在提供一种X荧光光谱仪的样品防尘装置，以减小试样盒内部空间，避免试片晃动，减少试样粉尘存在的空间，有效降低分析过程中粉尘对仪器内部污染的问题，也为分析检测结果的准确可靠性提供帮助。

本实用新型的目的是这样实现的：该X荧光光谱仪的样品防尘装置包括试样盒壳体、弹簧底座以及设于试样盒壳体和弹簧底座之间的防尘盘，防尘盘具有圆盘和盘柄，圆盘的一面和盘柄相互连接成T型；弹簧底座具有底座、试样托盘以及设于底座和试样托盘之间的弹簧，且在试样托盘上具有中心孔。

优选地，在圆盘的与盘柄不相连接的一面上还可具有凹台。

本实用新型由于采用上述技术方案，具有如下优点。

1、能够快速确定试样正确位置，避免试样移动摩擦产生试样粉尘，减少试样盒内部空间。

2、避免了在将待测样品放入样品盒时，由于试样盒弹簧底座易使样品发生滑动，导致在检测过程中，X射线无法照射到待测试样均一稳定的表面造成的分析检测数据不准确的弊端。

附图说明

图1是本实用新型的立体结构图。

图2(a)是试样盒壳体1的正视图。

图2(b)是图2(a)的A-A向剖视图。

图2(c)是试样盒壳体1的顶视图。

图3(a)是防尘盘2的剖视图。

图3(b)是防尘盘2的底视图。

图4(a)是弹簧底座3的正视图。

图4(b)是弹簧底座3的顶视图。

图中：1-试样盒壳体；2-防尘盘；21-圆盘；22-盘柄；23-凹台；3-弹簧底座；31-底座；32-弹簧；33-试样托盘；34-中心孔；4-样品。

具体实施方式

下面结合附图中的实施例对本实用新型作进一步详细说明。

如图1所示，一种X荧光光谱仪的样品防尘装置，包括试样盒壳体1、弹簧底座3以及设于试样盒壳体1和弹簧底座3之间的防尘盘2，防尘盘2具有圆盘21和盘柄22，圆盘21的一面和盘柄22相互连接成T型；弹簧底座3具有底座31、试样托盘33以及设于底座31和试样托盘33之间的弹簧32，且在试样托盘33上具有中心孔34。

在圆盘21的与盘柄22不相连接的一面上还可具有凹台23。

基于对试片分析准确性的考虑，并要求所制作的装置不破坏设备本身的试样盒，所以防尘盘2的盘圆21的外径需小于试样盒内径；为了易于装卸，防尘盘2为一T型装置，有一盘柄22直接插入设备自带试样盒内部试样托盘33上的中心孔34中。增加此部件首先起到了快速确定试样正确位置，避免试样移动摩擦产生试样粉尘，减少试样盒内部空间的直接效果。

采用此装置，还从根本上避免了在将待测样品放入样品盒时，由于自带试样盒弹簧底座易使样品发生滑动，导致在检测过程中，X射线无法照射到待测试样均一稳定的表面造成的分析检测数据不准确的弊端。为此，该防尘装置在防尘盘2上加工出一个放置试片的凹台23，以保证待测试样中心表面与样品盒上X射线射入位置一致。

在充分考虑并确保防尘装置对ARL9800/9900系列X荧光光谱仪内部精密的电子元器件不产生磁场、腐蚀等不良影响，对待分析试样不产生基体干扰，分析检测结果准确可靠的基础上，只要满足材质具备一定的机械强度，易加工，该防尘装置可以使用金属铝、钢铁、不锈钢、聚四氟乙烯等任何材质。

上面以举例方式对本实用新型进行了说明，但本实用新型不限于上述具体实施例，凡基于本实用新型所做的任何改动或变型均属于本实用新型要求保护的范围。