[实用新型]探针式连接器检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种连接器探针式连接器检测装置。

背景技术

目前电子行业中针对连接器而设计的探针式检测装置在测试时存在的缺点主要是：装置底部无法稳固的与连接器完成定位，导致探针与连接器上的测试点很难准确接触，对插时易晃动导致连接器损伤和压伤；经常会将良品判定为NG状态。尤其是对于针脚间隙（Pitch）较小的连接器（B-B结构连接器）无法很好的完成检测。

发明内容

本实用新型目的是：提供一种探针定位精确，测试稳定性好，良品通过率高的探针式连接器检测装置。

本实用新型的技术方案是：一种探针式连接器检测装置，包括上组块和通过连接柱连接至上组块上的下组块，所述上组块上装配有探针，所述探针向下穿过所述下组块；其特征在于所述下组块的底部还固定有保护板，所述保护板上设有用于卡固连接器的定位槽，所述探针从所述定位槽中伸出。

进一步的，本实用新型中所述上组块包括从上到下顺序设置并通过螺钉固定的第一配线板、第二配线板、第三配线板和第四配线板，所述四个配线板上均对应设有用于安装探针的贯通孔，所述第三配线板的贯通孔直径大于第四配线板的贯通孔直径，该第三配线板内设置有弹簧，所述弹簧顶部与成型于探针上的弹簧定位凸台相抵；所述下组块包括从上到下顺序设置并通过调整螺栓固定的第一头板、第五配线板和第二头板；所述保护板通过螺钉固定在第二头板的底部。

更进一步的，本实用新型中所述探针上一体设有限位凸台，该限位凸台位于第二配线板的贯通孔内，且该限位凸台的直径大于第一配线板和第三配线板的贯通孔直径。实际工作时，限位凸台于第二配线板的贯通孔内随探针上下活动，由于无法通过第一配线板和第三配线板上的贯通孔，故能够限制探针上下活动的范围。

更进一步的，本实用新型还包括从下到上顺序穿过第二头板、第五配线板和第一头板的定位销。

进一步的，本实用新型中所述定位槽的形状与连接器的外轮廓形状匹配。即本实用新型中的定位槽根据连接器的具体型号规格尺寸来设计和成型。

本实用新型的优点是：

1. 本实用新型在实际使用时通过保护板上的定位槽来定位连接器，确保探针可以精确接触连接器各测试点，无晃动、无打痕，从而进行稳定、精确的测试，故良品通过率高，且不会损伤连接器，能够很好的应对Pitch较小（最小0.3mm）的B-B结构连接器。

本实用新型由于解决了上述问题，故还能够增加单位时间内的测试量，提高日产量，节约人力资源，提高工作效率。

附图说明

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

图1为本实用新型的结构示意图；

其中：1、第一配线板；2、第二配线板；3、第三配线板；4、第四配线板；5、定位销；6、调整螺栓；7、第一头板；8、第五配线板；9、第二头板；10、探针；11、连接柱；12、保护板；13、定位槽；14、弹簧。

具体实施方式

实施例：结合图1所示，本实用新型提供的这种探针式连接器检测装置，其同常规技术一样具有上组块和通过连接柱11连接至上组块上的下组块，所述上组块上装配有探针10，所述探针10向下穿过所述下组块。具体见图1，所述上组块由从上到下顺序设置并通过螺钉固定的第一配线板1、第二配线板2、第三配线板3和第四配线板4构成，所述四个配线板4上均对应设有用于安装探针10的贯通孔，所述第三配线板3的贯通孔直径大于第四配线板4的贯通孔直径，该第三配线板3内设置有弹簧14，所述弹簧14顶部与成型于探针10上的弹簧定位凸台（未标出）相抵。同时所述探针10上一体设有限位凸台（未标出），该限位凸台位于第二配线板2的贯通孔内，且该限位凸台的直径大于第一配线板1和第三配线板3的贯通孔直径。所述下组块由从上到下顺序设置并通过调整螺栓6固定的第一头板7、第五配线板8和第二头板9，以及从下到上顺序穿过第二头板9、第五配线板8和第一头板7的定位销5所构成。

本实用新型的改进在于：在第二头板9的底部通过螺钉固定有保护板12，所述保护板12上设有用于卡固连接器的定位槽13，所述探针10从所述定位槽13中伸出。并且所述定位槽13的形状与所需检测的连接器的外轮廓形状匹配。