[实用新型]太阳膜光学性能测试仪有效

专利信息
申请号: 201320406828.8 申请日: 2013-07-09
公开(公告)号: CN203350175U 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 张曼莉 申请(专利权)人: 深圳市林上科技有限公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/59
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 太阳 光学 性能 测试仪
【权利要求书】:

1.一种太阳膜光学性能测试仪,其特征在于,包括:

盒体(1),设置于所述盒体(1)表面的显示模块(2),开设于所述盒体(1)上的槽口状的测试槽(3),

于所述测试槽(3)的两相对面中的第一面或第二面设置的紫外线LED(41)、红外线LED(42)、可见光LED(43);

于所述测试槽(3)的两相对面中的第一面或第二面设置的分别对应探测所述紫外线LED(41)所发出的紫外线强度信号、所述红外线LED(42)所发出的红外线强度信号、所述可见光LED(43)所发出的可见光强度信号的紫外线探测器(51)、红外线探测器(52)、可见光探测器(53);

设置于所述盒体(1)内,控制所述紫外线LED(41)、所述红外线LED(42)、所述可见光LED(43)工作与否,并将所述紫外线探测器(51)、红所述外线探测器(52)、所述可见光探测器(53)在太阳膜置入所述测试槽(3)前后所分别探测到的紫外线强度信号、红外线强度信号、可见光强度信号分别换算成紫外线阻隔率、红外线阻隔率、可见光透过率于所述显示模块(2)显示的控制电路(6);

所述控制电路(6)的控制端分别与所述紫外线LED(41)、所述红外线LED(42)、所述可见光LED(43)电连接,接收端分别与所述紫外线探测器(51)、所述红外线探测器(52)、所述可见光探测器(53)电连接,显示端与所述显示模块(2)电连接。

2.如权利要求1所述的太阳膜光学性能测试仪,其特征在于,所述紫外线LED(41)、所述红外线LED(42)、所述可见光LED(43)均设置于所述测试槽(3)的两相对面中的第一面,所述紫外线探测器(51)、所述红外线探测器(52)、所述可见光探测器(53)分均设置于所述测试槽(3)的两相对面的第二面。

3.如权利要求1所述的太阳膜光学性能测试仪,其特征在于,所述测试槽(3)的宽度为20mm~45mm。

4.如权利要求1所述的太阳膜光学性能测试仪,其特征在于,所述显示模块(2)包括分别显示所述紫外线阻隔率、红外线阻隔率、可见光透过率的三组数码显示管。

5.如权利要求1所述的太阳膜光学性能测试仪,其特征在于,所述控制电路(6)包括单片机,所述单片机的型号为ATMEGA8。

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