[实用新型]一种样品室及X射线荧光光谱仪

权利要求书

1.一种样品室，适用于X射线荧光光谱仪容置样品，其特征是：所述的样品室包括样品室本体、测样面板和样品室端盖，所述的样品室端盖设置于所述的样品室本体的顶部，所述的测样面板设置于所述的样品室本体的底部，样品室本体、测样面板和样品室端盖三者形成一个密封的容置空间。 

2.根据权利要求1所述的样品室，其特征是：在所述的测样面板上开设有凹陷的密封槽，用于样品室本体卡合固定在测样面板上。 

3.根据权利要求1所述的样品室，其特征是：所述的样品室端盖为铅玻璃片。 

4.根据权利要求1所述的样品室，其特征是：所述的样品室本体和测样面板的材质为铝合金、不锈钢或黄铜。 

5.根据权利要求1所述的样品室，其特征是：所述的样品室本体和测样面板的材质为表面经过硬质阳极氧化处理的铝合金。 

6.根据权利要求1至5中任一项所述的样品室，其特征是：所述的样品室本体的顶部开设有燕尾槽，采用密封圈对应嵌合在所述的燕尾槽内，实现所述的样品室本体与所述的样品室端盖的密封连接；所述的样品室本体的底部开设有燕尾槽，采用密封圈对应嵌合在所述的燕尾槽内，实现所述的样品室本体与所述的测样面板的密封连接。 

7.根据权利要求6所述的样品室，其特征是：所述的样品室本体为空心圆筒结构，所述的密封圈为圆环结构，所述的密封槽为圆环结构。 

8.根据权利要求6所述的样品室，其特征是：所述的密封圈采用橡胶材料制成。 

9.一种X射线荧光光谱仪，包括取样门和如权利要求1至7中任一项所述的样品室。 

10.根据权利要求9所述的X射线荧光光谱仪，其特征是：所述的取样门，包括密封盖座和底座，所述的密封盖座和所述的底座活动连接，所述的密封盖座上嵌装铅玻璃片，所述的铅玻璃片可作为所述的样品室端盖。