[实用新型]一种样品盘、样品仓及X射线荧光光谱仪有效

专利信息
申请号: 201320411615.4 申请日: 2013-07-11
公开(公告)号: CN203432925U 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 杨宁波 申请(专利权)人: 深圳市禾苗分析仪器有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;G01N1/36
代理公司: 广东国晖律师事务所 44266 代理人: 邓钜明
地址: 518000 广东省深圳市南山区南头关口二*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 样品 射线 荧光 光谱仪
【说明书】:

技术领域

本实用新型公开一种样品盘,特别是一种应用于X射线荧光光谱仪的样品仓中的样品盘。

背景技术

随着检测市场的普及,各式各样的光谱仪应运而生,样品盘是X射线荧光光谱仪中的重要部件,现有技术中的样品盘多采用一体式固定结构,即将样品盘固定安装在测样面板上,在实际操作中,当需要测量多个样品时,必须先将样品取出再放入另一个样品,不但浪费时间,还会加重设备的损耗。

例如,专利CN202710490U公开一种磁性接合式样品盘,包括样品上盘和样品下盘,样品上盘和样品下盘上对应位置开设有薄膜孔,样品上盘或样品下盘上嵌装有磁钢,样品上盘和样品下盘通过磁钢吸合在一起形成样品盘。该种磁性结合式样品盘,虽然实现在一定程度上解决了样品盘更换不方便的问题,但是因为其仍为放置在测样面板上的固定式结构,也难以实现更加快捷、便利的拆卸、安装。该种样品盘为单次进样,当需要测量多个样品时必须先将样品取出再放入另一个样品,不但浪费时间,还会加重设备的损耗。

实用新型内容

针对上述提到的现有技术中的X射线测量仪器中的样品盘拆卸、更换不够方便、快捷,每次进样仅能放入一个样品的的缺点,本实用新型提供一种新的样品盘,其通过镶嵌有磁钢的样品盘本体和铁磁性的盘座的磁性吸合,实现样品盘整体的快速安装,并通过样品盘本体上的提块实现样品盘本体和盘座的分离,从而实现方便、快捷的安装、拆卸样品盘。在样品盘本体上开设不少于2个用于存放样品杯的样品孔,其底部装有滚动轴承、边缘紧密嵌合环形的齿轮,在电机的驱动下可以实现样品盘本体的旋转;从而实现旋转式的多通道的样品测试。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是:

一种样品盘,适用于X射线荧光光谱仪存放样品,包括镶嵌有磁钢的样品盘本体和铁磁性的盘座,所述的铁磁性的盘座上设有凸起,在所述的样品盘本体的对应位置设有与所述的盘座的凸起完全耦合的凹槽。通过盘座上的凸起和样品盘本体的凹槽的耦合,不仅便于样品盘本体的定位,还可以省略掉现有技术中的薄膜,从而使进一步提高拆卸、安装的便捷度。优选的,在样品盘本体上开设有磁钢安装孔,所述的磁钢镶嵌在所述的磁钢安装孔内。

较佳的,在所述的样品盘本体上设置有提块,用于实现样品盘本体和盘座的分离,即在施加于提块上的外力作用下,便可轻易实现样品盘本体和盘座的分离。

较佳的,所述的样品盘本体的边缘紧密嵌合有齿轮,用于与电机上的齿轮耦合;所述样品盘本体的凹槽位置的底部装有滚动轴承,所述的滚动轴承与所述的底座的凸起完全耦合;所述的样品盘本体上设有至少2个用于存放固体样品或样品杯的样品孔。在样品盘本体上开设多个样品孔,可以放入多个样品进行测量;其底部装有滚动轴承、边缘紧密嵌合环形的齿轮,在电机的驱动下可以实现样品盘本体的旋转,将样品盘上放置的固体样品或盛有液体样品的样品杯依次逐个送至测样位置;从而实现可以旋转式的多通道的样品测试。优选的,所述的样品盘本体上均匀分布地开设有6个样品孔,所述的样品孔为圆柱形阶梯孔。对应的,样品孔内配有样品杯,所述的样品杯呈中空筒状,可以用于直接放置固体样品;还可以在所述的样品杯内放置用于存放液体样品的液体杯,所述的液体杯为一端封有薄膜的中空管。

较佳的,所述的样品盘本体和所述的铁磁性的盘座之间留有微小间隙,较优的,所述的间隙为0.1mm至1mm,最优的间隙为0.3mm至0.7mm,以保证二者间有磁力的吸合力的同时还不会贴合,避免摩擦力影响样品盘本体的运动。

较佳的,所述的样品盘本体上设有定位片。所述的定位片与安装在测样面板上的光电开关共同作用,用于确定多样品输送盘旋转时的位置。当所述的定位片挡住光电开关时,多样品输送盘运动到了初始位置即“零位”,此时真空闸位于可隔断样品室和分析室的位置,样品盘旋转时会依次序将样品杯送至样品分析位置。通过电机驱动实现多样品输送盘本体的旋转,然后采用所述的定位片进行准确定位,可以实现对具体的某个样品准确定位并加以分析测量。通过电机驱动实现样品盘本体的旋转,然后采用所述的定位片进行准确定位,可以实现对具体的某个样品准确定位并加以分析测量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市禾苗分析仪器有限公司,未经深圳市禾苗分析仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320411615.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top