[实用新型]用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板

说明书

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试领域，特别涉及一种用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板。

背景技术

集成电路测试包括4个要素：测试设备、测试接口、测试程序、数据分析。为实现整个测试过程，需要在硬件上将自动测试设备（ATE）和 被测器件（DUT）进行高效、可靠的连接。测试接口的主要作用是将DUT和自动测试设备ATE之间提供硬件连接。

自动测试过程中，需要在硬件上将ATE和DUT进行高效、可靠的连接。一台ATE测试设备适合测试不同种类的集成电路，不同种类的集成电路需要调用ATE不同的硬件资源，引到DUT管脚的硬件资源也不同。

测试接口板的主要作用是将DUT和ATE硬件资源之间提供硬件连接。不同的种类需要调用测试设备具有不同的硬件资源，引到DUT管脚的硬件资源也不同。相同种类的DUT由于功能，封装形式，尺寸不同也需要有相应的接口板。就DC-DC 转换器而言，MTR S系列和MHV S系列DC-DC转换器管脚排列相似，区别在于MTR S系列有2个SENSE端，工作时需分别与输出端（out）短接，而MHV S系列无SENSE端。按照通常设计须设计2个完全独立的接口板。接口板制作通常耗费时间长，费用大。不利于提高效率，节约成本。

实用新型内容

本实用新型解决的问题是提供一种用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板，以解决现有接口卡不能在MTR S系列和MHV S系列DC-DC变换器之间通用的问题。

为解决所述问题，本发明提供一种用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板，包括： 负输出端、正输出端、感应端和反馈端，所述负输出端与反馈端之间连接有第一开关；所述正输出端与反馈端之间连接有第二开关。

进一步，还包括：与ATE硬件资源连接的接口，所述ATE硬件资源包括外部电源，负载，测试卡等。

进一步，当测试MTR S系列时，所述第一开关和第二开关均导通；当测试MHV S系列时，所述第一开关和第二开关均断开。

本实用新型提供的用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板适用于MTR S系列和MHV S系列DC-DC变换器测试，使得对于有SENSE端和无SENSE端的被测器件，能够用一个通用器件接口板完成对于DC-DC变换器的测试要求，又降低了测试的成本。同样适用于其他型号DC-DC变换器测试通用接口板的设计制作。

附图说明

图 1为本发明所提供的用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板的结构示意图。 

具体实施方式

下文中，结合附图和实施例对本实用新型作进一步阐述。

如图1所示，本实用新型提供一种用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板，包括： 负输出端11、正输出端12、感应端（SENSE）22和反馈端（SENSE RETURN）21，所述负输出端11与反馈端21之间连接有第一开关01；所述感应端22与正输出端12之间连接有第二开关02。

本实用新型提供的用于DC-DC变换器测试的通用器件接口板还包括：与ATE硬件资源连接的正、负接口。所述ATE硬件资源包括外部电源，负载，测试卡等。

工作时，负载接在所述负输出端11、正输出端12之间，当测试MTR S系列时，所述第一开关01和第二开关02均导通；当测试MHV S系列时，所述第一开关01和第二开关02均断开。

本实用新型虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本实用新型，任何本领域技术人员在不脱离本实用新型的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本实用新型技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本实用新型技术方案的保护范围。