[实用新型]InN/AlN/玻璃结构有效
申请号: | 201320425747.2 | 申请日: | 2013-07-17 |
公开(公告)号: | CN203367341U | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 张铁岩;鞠振河;张东;郑洪 | 申请(专利权)人: | 辽宁太阳能研究应用有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L31/0304 |
代理公司: | 沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107 | 代理人: | 史旭泰 |
地址: | 110136 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | inn aln 玻璃 结构 | ||
技术领域
本实用新型属于新型光电材料技术领域,尤其涉及一种InN/AlN/玻璃结构。
背景技术
氮化铟(InN)是Ⅲ族氮化物中的重要成员,与GaN和AlN相比,InN的迁移率和尖峰速率等都是最高的,在高速高频晶体管等电子器件的应用上有独特优势;其室温带隙位于近红外区,也适于制备高效率太阳能电池、半导体发光二极管及光通信器件等光电器件。现有InN光电薄膜一般生长在蓝宝石等一些基片上。众所周知,蓝宝石基片的价格较高,用它作为InN材料的衬底,使InN材料基的器件的成本很难降下来,严重阻碍了InN材料器件的发展。
发明内容
本实用新型就是针对上述问题,提供一种电学性能良好且成本低的InN/AlN/玻璃结构。
为实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案,本实用新型包括玻璃基片,其结构要点玻璃基片上沉积有AlN缓冲层薄膜,AlN缓冲层薄膜上沉积有InN光电薄膜。
作为一种优选方案,本实用新型所述AlN缓冲层薄厚度为30~200nm。
作为另一种优选方案,本实用新型所述InN光电薄膜的厚度为200nm~800nm。
作为另一种优选方案,本实用新型所述所述玻璃基片为康宁玻璃基片。
作为另一种优选方案,本实用新型所述玻璃基片的厚度为0.2mm~0.8mm。
作为另一种优选方案,本实用新型所述AlN缓冲层薄膜厚度为200nm,InN光电薄膜的厚度为800nm。
作为另一种优选方案,本实用新型所述AlN缓冲层薄膜厚度为30nm,InN光电薄膜的厚度为200nm。
作为另一种优选方案,本实用新型所述AlN缓冲层薄膜厚度为80nm,InN光电薄膜的厚度为500nm。
其次,本实用新型所述AlN缓冲层薄膜厚度为60nm,InN光电薄膜的厚度为700nm。
另外,本实用新型所述AlN缓冲层薄膜厚度为50nm,InN光电薄膜的厚度为600nm。
本实用新型有益效果。
本实用新型通过在AlN/玻璃基片衬底上沉积制备出高质量的InN光电薄膜,成本非常低。另外,本实用新型在AlN/玻璃基片结构上的InN光电薄膜产品经测试具有良好的电学性能和稳定性,易于制备出高频率大功率的器件。其次,AlN与InN具有相似的晶体结构,作为InN与玻璃之间的缓冲层,很好的解决了InN外延层与玻璃衬底之间存在的晶格失配问题。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步说明。本实用新型保护范围不仅局限于以下内容的表述。
图1为本实用新型InN/AlN/玻璃基片结构X射线衍射图谱。
图2为本实用新型实例1InN/AlN/玻璃基片结构的原子力显微镜(AFM)测试图像。
图3为本实用新型实例1InN/AlN/玻璃基片结构的扫描电子显微镜(SEM)测试图像。
图4为本实用新型实例2InN/AlN/玻璃基片结构的扫描电子显微镜(SEM)测试图像。
图5为本实用新型InN/AlN/玻璃基片结构示意图。
图5中,1为玻璃基片,2为AlN薄膜缓冲层,3为InN光电薄膜。
具体实施方式
如图所示,本实用新型包括玻璃基片,玻璃基片上沉积有AlN缓冲层薄膜,AlN缓冲层薄膜上沉积有InN光电薄膜。
所述AlN缓冲层薄厚度为30~200nm。
所述InN光电薄膜的厚度为200nm~800nm。
所述所述玻璃基片为康宁玻璃基片。
所述玻璃基片的厚度为0.2mm~0.8mm。
所述AlN缓冲层薄膜厚度为200nm,InN光电薄膜的厚度为800nm。
所述AlN缓冲层薄膜厚度为30nm,InN光电薄膜的厚度为200nm。
所述AlN缓冲层薄膜厚度为80nm,InN光电薄膜的厚度为500nm。
所述AlN缓冲层薄膜厚度为60nm,InN光电薄膜的厚度为700nm。
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