[实用新型]检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种检测系统。

背景技术

液晶显示器面板包括彩膜基板和阵列基板，彩膜基板和阵列基板都是以玻璃基板作为最基本的原材料进行不同的工艺加工而成的。其中阵列基板的制造过程通常需要循环执行成膜、曝光、刻蚀和剥离这几个工艺以制成多图案层。由于玻璃基板上的玻璃厚度较薄，通常在0.3-0.7mm，在生产过程中玻璃边缘极易破碎或破损，玻璃一旦破损或破碎，会对产品和设备造成严重影响。

通常阵列基站或彩膜基板的基板缺损检测方法主要有真空吸附报警和在基板运行方向的边缘设置摄像头来记录边缘是否缺损。其中真空吸附报警即为对基板进行真空吸附，检测吸附后的真空度，若达不到预设的真空度，则确定基站破损，进行报警。但是这种方法容易受到真空供应压力波动、台板平整度、基板轻微形变的影响，因此容易出现误报警或漏检；在基板运行方向的边缘设置摄像头来记录边缘是否缺损则只能检测到基板行进方向边缘的缺损，而对与行进方向垂直的基板边缘缺损无法检测，因此，目前的基板缺损检测方法不能有效的检测基站的缺损状况，检测精度较低。

发明内容

本实用新型实施例提供一种检测系统，以提高基板缺损检测的精度。

一种检测系统，包括：

用于获取基板的二维图像信息的图像采集设备；

用于根据所述二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据检测所述基板是否缺损的数据处理设备，与所述图像采集设备相连。

本实用新型实施例提供一种检测系统，包括图像采集设备，数据处理设备，通过图像采集设备获取基板的二维图像信息，再由数据处理设备根据图像采集设备获取的二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据来检测基板是否缺损，由于根据图像采集设备获取的二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据对基板进行检测时，可以根据多个方面的规格标准数据进行检测，因此不易出现漏检测，检测精度也较高，可以有效的提高基板缺损检测的精度。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的检测系统的结构示意图之一；

图2为本实用新型实施例提供的一种图像采集设备的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的检测系统的结构示意图之二；

图4为本实用新型实施例提供的基板承载设备结构示意图之一；

图5为本实用新型实施例提供的基板承载设备结构示意图之二；

图6为本实用新型实施例提供的一种数据处理设备结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的一种较佳的检测系统结构示意图。

具体实施方式

本实用新型实施例提供一种检测系统，包括图像采集设备，数据处理设备，以及基板承载设备，通过图像采集设备获取基板的二维图像信息，再由数据处理设备根据图像采集设备获取的二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据来检测基板是否缺损，由于根据图像采集设备获取的二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据对基板进行检测时，可以根据多个方面的规格标准数据进行检测，因此不易出现漏检测，检测精度也较高，可以有效的提高基板缺损检测的精度。

如图1所示，本实用新型实施例提供一种检测系统，包括：

用于获取基板的二维图像信息的图像采集设备101；

用于根据二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据检测基板是否缺损的数据处理设备102，与图像采集设备101相连。

通过图像采集设备101获取基板的二维图像信息，再由数据处理设备102根据图像采集设备101获取的二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据来检测基板是否缺损。由于根据图像采集设备101扫描得到的二维图像信息及预先设定的基板规格标准数据对基板进行检测时，可以根据形状、面积等多个方面的规格进行检测，因此不易出现漏检测，检测精度也较高。

其中，基板可以是显示器件制作过程中的显示基板、衬底基板等已形成或尚未形成有器件图形的各类基板，且不限制显示类型，例如可以为液晶显示、电致发光显示等；

图像采集设备可以为现有的任意类型的具备二维图像采集功能的设备，本实用新型实施例中以电荷耦合元件（Charge Coupled Device，CCD）扫描设备为例进行说明。

具体的，如图2所示，图像采集设备101包括：

CCD201、与CCD201相连的CDD驱动电路202及连接在CCD201上的透镜203，其中透镜203用于增大CCD201的扫描宽度。