[实用新型]一种新型硅胶按键导电性能的测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及遥控器测试装置，特别指一种新型硅胶按键导电性能的测试系统及测试方法。 

背景技术

在遥控器、遥控器或其它电子产品的硅胶导电按键的生产和装配线中，会有专用工位来检测硅胶按键底部是否涂有导电碳粒，目前检查硅胶按键有没有涂导电碳粒主要是通过人工眼睛检查及采用工业相机视觉对比（硅胶与导电碳粒色差比对）这两种方法。 

人工眼睛检查硅胶按键每个按键的底部是否涂有导电碳粒，眼睛容易疲劳，速度慢，效率低，并且受人为因素影响容易误判。 

采用工业相机视觉对比检查硅胶按键每个按键的底部是否涂有导电碳粒，其优点是检测速度快，缺点有以下3点： 

相机视觉检测投入成本高(CCD及视觉软件价格昂贵)，另维护人员调机的技能直接会影响设备的使用及产品的质量，一般中小型遥控器厂家无法接受；

来料的差异及设计(如硅胶按键本体与导电碳粒都为黑色或色泽相近)会造成设备的漏判及误判，或根本无法检测；

按键导电碳粒导电阻值差异（导电碳粒的厚薄及油脏污造成其导电阻值偏大或不导电）不可控，只能人为抽检检测。

发明内容

本实用新型的目的是针对背景技术中存在的缺点和问题加以改进和创新，提供 

一种结构简单、性能稳定、操作方便且能为客户起到提高效率和节约成本的新型硅胶按键导电性能的测试系统及测试方法。

本实用新型的技术方案是构造一种包括机架、运动机械手、定位治具、硅胶按键一体式点击头、阻抗检测电路、信号采集处理软件及用户操作界面，其中： 

机架为桌式立体结构，定位治具包括至少两套，分别设置在机架的面板上，定位治具上放置待测导电硅胶按键片，其上方为运动机械手，运动机械手连接电气控制系统，其末端设置硅胶按键一体式点击头，硅胶按键一体式点击头通过阻值采样及信号处理电路与电脑系统连接；

所述的阻值采样电路内包括集成运算放大器U1，集成运算放大器U1的反相输入端分别连接分压电阻R3及可调比较电阻R2，两电阻串联，R3的另一端接地，R2的另一端连接硅胶按键一体式点击头S1，集成运算放大器U1的同相输入端分别连接分压电阻R1及硅胶按键上导电颗粒的等效电阻R0，两电阻串联，R1的另一端接地，集成运算放大器U1输出端通过I/O接口U2连接电脑。

    本实用新型具有以下优点和有益效果： 

1.设备检测结构简单实用,成本低,易于维护；

2.导电碳粒的导电系数可自行设置,通过电脑数据库管理利于品质管控及分析；

3.不受外界环境及来料不良影响；

4.本实用新型结构简单，性能稳定，操作方便，且能为客户起到提高效率和节约成本的作用；

5.一套系统装置可同时测试4只遥控器硅胶按键，并且左右两边双工位交互测试,提高了工作效率,之前需4人测试,现在只需要1个人做，节省3人； 

6.本测试方法和系统装置是通过硅胶按键一体式点击头(点击头上一个正极与负极相互绝缘嵌入设计，可有效保证导电胶粒从Ф1以上均可有效检测)接触按键导电颗粒进行阻值采样检测，采样阻值通过其模数转换电路与电脑软件通讯显示,且可通过用户自定义设置相应的导电系数来控制其按键的导电性能。

附图说明

    图1是本实用新型的结构示意图。 

    图2是本实用新型的运动机械手的结构示意图。 

    图3是本实用新型的定位治具的结构示意图。 

    图4是本实用新型的硅胶按键一体式点击头的结构示意图。 

    图5是图4中硅胶按键一体式点击头底部结构示意图。 

    图6是本实用新型的阻值采样电路的电路图。 

    图7是本实用新型的测试模板设计模式方框图。 

    图8是本实用新型的生产测试模式方框图。 

具体实施方式

    由图1至图8可知，本实用新型包括机架1、运动机械手2、定位治具3和硅胶按键一体式点击头S1，其中： 

机架1为桌式立体结构，定位治具3包括至少两套，分别设置在机架1的面板上，定位治具3上放置待测遥控器，其上方为运动机械手2，运动机械手2连接电气控制系统，其末端设置硅胶按键一体式点击头S1，硅胶按键一体式点击头S1通过阻值采样电路与电脑系统连接；