[实用新型]PTC/NTC双控温控制装置有效

专利信息
申请号: 201320443970.X 申请日: 2013-07-24
公开(公告)号: CN203480335U 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 彭凯文 申请(专利权)人: 彭凯文
主分类号: G05D23/19 分类号: G05D23/19
代理公司: 余姚德盛专利代理事务所(普通合伙) 33239 代理人: 胡小永
地址: 343811 江西省*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: ptc ntc 温控 装置
【权利要求书】:

1.一种PTC/NTC双控温控制装置,包括控制器和发热体,其中控制器包括微处理器、直流电压电路、同步信号电路、档位设置、按键功能选择、基准电压电路、指示电路,发热体包括PTC发热线、NTC层、金属线;其特征在于:所述控制器还包括第一比较器、第二比较器、第三比较器、NTC负载检测、NTC电压取样、光耦电路、PTC电压取样和可控硅电路;

第一比较器:该电路一端与PTC电压取样相接,另一端与基准电压相接,输出端与微处理器相接;

第二比较器:该电路一端与基准电压相接,另一端与NTC电压取样相接,输出端与微处理器相接;

第三比较器:该电路一端与基准电压相接,另一端与NTC负载检测相接,输出端与微处理器相接;

NTC负载检测:该电路一端与第三比较器相接,另一端与金属线相接;

NTC电压取样:该电路一端与第二比较器相接,另一端与金属线相接;

光耦电路:该电路控制端的一端与微处理器相接,另一端接地;被控制端的一端接交流电源,另一端接金属线;

PTC电压取样:该电路一端与第一比较器相接,另一端与工作可控硅一端相接,再一端接地;

可控硅电路:该电路一端与微处理相接,另一端与PTC电压取样相接,再一端与PTC发热线相接。

2.如权利要求1所述的PTC/NTC双控温控制装置,其特征在于:所述可控硅电路包括第四比较器、直流基准电压电路、可控硅短路检测电路、保护可控硅和工作可控硅,所述第四比较器与所述直流基准电压电路以及可控硅短路检测电路电气连接,所述保护可控硅、所述工作可控硅和所述PTC电压取样电路电气连接。

3.如权利要求1所述的PTC/NTC双控温控制装置,其特征在于:所述可控硅电路包括相互电气连接的可控硅短路检测电路、第一工作可控硅和第二工作可控硅。

4.如权利要求2所述的PTC/NTC双控温控制装置,其特征在于:所述工作可控硅为一双向可控硅,所述保护可控硅为一单向可控硅所述第四比较器的同相端与可控硅短路检测相接再与所述双向可控硅连接,所述第四比较器的反相端连接直流基准电压。

5.如权利要求3所述的PTC/NTC双控温控制装置,其特征在于:所述第一和第二工作可控硅均为双向可控硅。

6.如权利要求1所述的PTC/NTC双控温控制装置,其特征在于:所述光耦电路可以用可控硅代替。

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