[实用新型]一种简易的中高温半导体电导率测试装置

权利要求书

1.一种简易的中高温半导体电导率测试装置，该测试装置包括进气管（1）、电压线（2）、电流线（3）、硅橡胶塞（4）、双孔刚玉管（5）、加热管（6）、排气管（7）、铂网（8）、半导体样品（9）、刚玉槽（10）、顶压刚玉管（11）、加热炉（12）、金属丝（13）、支撑刚玉管（14）、阀门（15）、储气瓶（16）、电流表（17）、电压表（18）及直流电流源（19），其特征在于，所述支撑刚玉管（14）外吻合套装有双孔刚玉管（5），双孔刚玉管（5）与支撑刚玉管（14）通过金属丝（13）固定，双孔刚玉管(5)的一端固定设有硅橡胶塞（4），另一端连接有刚玉槽（10），接口处通过陶瓷胶固定封闭，刚玉槽（10）内设有两片铂网（8），铂网（8）之间固定设有半导体样品（9），铂网（8）与双孔刚玉管（5）之间设有顶压刚玉管（11）；所述电流线（3）与电压线（2）通过双孔刚玉管（5）后分别固定在铂网（8）及半导体样品（9）上，电压线（2）的两端与电压表（18）相连，直流电流源（19）、电流表（17）及半导体样品（9）通过电流线（3）依次匹配电连接，支撑刚玉管（14）的前端通过进气管（1）与储气瓶（16）相连通，进气管（1）上设有阀门（15）。

2.根据权利要求1所述的一种简易的中高温半导体电导率测试装置，其特征在于，所述硅橡胶塞（4）的外径尺寸与加热管（6）的内径尺寸吻合，加热管（6）的外围紧贴加热炉（12）内壁，加热管（6）的后部连接有排气管（7）。