[实用新型]一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路

权利要求书

1.一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：该放大电路包括高隔离度电路和高闭环回路增益电路，其中，高隔离度电路输入端与天平微力矩校准仪的位移信号和力信号相连，并输出位移跟随信号和力跟随信号，实现天平微力矩校准仪产生的位移信号和力信号与天平微力矩校准仪机械结构的高度隔离；高闭环回路增益电路对天平微力矩校准仪的横梁偏转进行闭环控制，使其快速进入稳定装置，并稳定在角度较小的偏转位置。 

2.根据权利要求1所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的高隔离度电路包括运算放大器A（1）和运算放大器B（2），其中，运算放大器A（1）的同相输入端通过电阻R1接收输入的位移信号，运算放大器A（1）的反相输入端直接通过导线与运算放大器A（1）的输出端连接，并在输出端输出位移跟随信号；运算放大器B（2）的同相输入端通过电阻R2接收输入的力信号，运算放大器B（2）的反相输入端直接通过导线与运算放大器B（2）的输出端连接，并在输出端输出力跟随信号。 

3.根据权利要求1所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的高闭环回路增益电路包括运算放大器C（3）和运算放大器D（4），其中，运算放大器C（3）的同相输入端通过电阻R7与地相连，反相输入端通过并联的电容C19和电阻R8与运算放大器C（3）的输出端相连，且运算放大器C（3）的输出端通过电阻R9与运算放大器D（4）的同相输入端相连，并在电阻R9与运算放大器D（4）的同相输入端之间的线路上通过电容C24与地相连；运算放大器D（4）的反相输出端通过导线直接与运算放大器D（4）的输出端相连。 

4.根据权利要求2所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的高隔离度电路中运算放大器A（1）正电源端口接有+15V电压，负电源端口接有-15V电压，并在运算放大器A（1）的正电源端口与地之间，以及负电源端口与地之间，分别并联有电容C1、C2和电容C3、C4；运算放大器B（2）正电源端口接有+15V电压，负电源端口接有-15V电压，并在运算放大器B（2）的正电源端口与地之间，以及负电源端口与地之间，分别并联有电容C5、C6和电容C7、C8。 

5.根据权利要求4所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的电容C1和电容C3为电解电容，电容值相等为10μF； 电容C2和电容C4的电容值相等为0.1μF；与运算放大器A（1）输入端相连的电阻R1的电阻值为1KΩ；所述的电容C5和电容C7为电解电容，电容值相等为10μF；电容C6和电容C8的电容值相等为0.1μF；与运算放大器A（1）输入端相连的电阻R2的电阻值为1KΩ。 

6.根据权利要求3所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的运算放大器C（3）正电源端口接有+15V电压，负电源端口接有-15V电压，并在运算放大器C（3）的正电源端口与地之间，以及负电源端口与地之间，分别并联有电容C20、C21和电容C22、C23；所述的运算放大器D（4）正电源端口接有+15V电压，负电源端口接有-15V电压，并在运算放大器D（4）的正电源端口与地之间，以及负电源端口与地之间，分别并联有电容C25、C26和电容C27、C28。 

7.根据权利要求6所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的电容C20和电容C22为电解电容，电容值相等为10μF；电容C21和电容C23的电容值相等为0.1μF；所述的电容C25和电容C27为电解电容，电容值相等为10μF；电容C26和电容C28的电容值相等为0.1μF。 

8.根据权利要求6所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的运算放大器C（3）输入端相连的电阻R7的电阻值为3.3KΩ；运算放大器C（3）反相输入端与输出端之间的电容C19为0.1μF，电阻R8为可调阻值的电阻；运算放大器C（3）输出端与运算放大器D（4）之间的电阻R9的阻值为10KΩ，电容C24的电容值为0.47μF。 

9.根据权利要求2或4或5所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的高隔离度电路中的运算放大器A（1）和运算放大器B（2）为具有高阻抗的运放AD602。 

10.根据权利要求8所述的一种提高天平微力矩校准仪测量线性度的放大电路，其特征在于：所述的电阻R8的电阻典型值为1MΩ。