[实用新型]一种晶圆上片防撞机台有效
申请号: | 201320473863.1 | 申请日: | 2013-08-05 |
公开(公告)号: | CN203415556U | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 廖明俊;赵亮;孙俊杰;蒋秦苏 | 申请(专利权)人: | 矽品科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 陆明耀;姚姣阳 |
地址: | 215123 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 上片 撞机 | ||
技术领域
本实用新型涉及在半导体封装领域中的防撞机台,具体是涉及一种在晶圆上片过程中防止其撞料的防撞机台,属于半导体封装生产设备改进的技术领域。
背景技术
IC制造一般可分为四个阶段:晶圆制造、晶圆测试、封装、成品测试。封装的流程又基本上可分为下述几个阶段:晶圆研磨→晶圆切割→黏晶粒→焊线→封胶→盖印→电镀→切角/成型→测试及包装。在晶圆研磨好过后,通常将多片研磨制作好的晶圆放在晶圆输送盒内存放,并作为晶圆的载具将晶圆送到不同机台或不同工作站进行加工、测试。在上述加工、测试过程中,需将晶圆输送盒放置在升降台上,通过升降台一定频率和距离的上升,配合晶圆夹取机构将晶圆输送盒内的每一片晶圆取出、进而进入后续加工或测试过程。然而在晶圆输送盒上升过程中,若晶圆输送盒未放置在升降台上的指定位置、发生偏移,则有可能使晶圆输送盒撞击周边的机构及撞坏其内部的晶圆,造成设备或晶圆损坏,影响整个生产过程。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决上述技术问题,提供一种装载在晶圆输送盒内的晶圆,在其上片过程中,避免撞料及撞击设备的上片防撞机台。本实用新型的技术解决方案如下:
一种晶圆上片防撞机台,包括用于放置晶圆输送盒的升降台,在所述升降台上设置有机台侧板,在所述机台侧板上开设有与所述晶圆输送盒宽度相当的定位凹槽,在所述定位凹槽的上端还设置有防撞片。
本实用新型优选地,所述防撞片的宽度与所述定位凹槽相当。
本实用新型优选地,所述升降台上连接用控制上升或下降的驱动装置。
本实用新型的运用和实施使其有益效果主要体现在:通过加装定位凹槽等定位装置,有效防止晶圆输送盒在升降过程中移位,从而避免撞击周边机构及其内部晶圆,减少设备或晶圆损坏,保证生产效率;通过加装防撞片,避免晶圆输送盒上升超过范围时撞击定位槽上端位置,同样避免了晶圆被损坏。
附图说明
图1是本实用新型一种晶圆上片防撞机台的结构示意图;
图2是本实用新型一种晶圆上片防撞机台的剖视图。
具体实施方式
下面结合附图与具体实施例对本实用新型进行说明,所举的实施例仅是对本实用新型产品或方法作概括性例示,有助于更好地理解本实用新型,但并不会限制本实用新型范围。
如图1所示,本实用新型一种晶圆上片防撞机台包括用于放置晶圆输送盒3的升降台1,在所述升降台1上设置有机台侧板2,在所述机台侧板2上开设有与所述晶圆输送盒3宽度相当的定位凹槽4,在所述定位凹槽4的上端还设置有防撞片5。如图2可知,所述防撞片5的宽度与所述定位凹槽4相当。所述升降台1上连接用控制上升或下降的驱动装置,如连接有活塞装置等。
本实用新型晶圆上片防撞机台具体操作时,将晶圆输送盒3手动或通过机器放置在升降台1固定位置,卡箍在定位凹槽4内,开启升降台1连接的驱动装置、配合其他控制装置使升降台1有一定频率和距离的上升,每上升一次,机台上的晶圆夹取装置完成一次晶圆取出过程。即使晶圆输送盒5的上升超出定位凹槽4的高度范围,由于防撞片5的设置,使定位凹槽4和机台侧板2的表面形成弧形光滑过渡,避免在该异常情况下造成的晶圆输送盒5被直接撞击。
因此,本实用新型晶圆上片防撞机台通过加装定位凹槽等定位装置,有效防止晶圆输送盒在升降过程中移位,从而避免撞击周边机构及其内部晶圆,减少设备或晶圆损坏,保证生产效率;通过加装防撞片,避免晶圆输送盒上升超过范围时撞击定位槽上端位置,同样避免了晶圆被损坏。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型技术原理的前提下,还可以作出若干改进和变型,这些改进和变型也应该视为本实用新型的保护范围。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造