[实用新型]零漂移运算放大器测试电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种运算放大器的测试电路，具体涉及一种零漂移运算放大器测试电路。

背景技术

随着运算放大器市场应用需求，各领域需要不同类型特殊运算放大器，而对这些特殊运算放大器给测试带来一些困扰。目前市面上都是采用测试厂商提供的通用测试板（Device Under Test Board，DUTBoard）及配套的设备来完成测试，这些设备成本较高，测试电路复杂，不易使用，且只能测试一些通用型运放集成电路（integrated circuit，IC），对特殊系列运放IC（如零漂移运放）精度很难满足测试要求。

零漂移运算放大器因具有超低的输入失调电压，目前输入失调电压10uV以下的零漂移运算放大器如采用测试机厂商提供的DUTBoard量产测试会存在以下问题：

1、测试机配套的DUTBoard V/I Source源量测精度不够高，不易修改电路；

2、DUTBoard测试时自身存在的失调电压不易消除；

3、匹配电阻精度不高，环路不稳定等原因造成测试不准确。

实用新型内容

本实用新型提供一种零漂移运算放大器测试电路，采用简单的测试电路实现各类型运算放大器电气参数检测及解决零漂移类型运算放大器IC在量产测试。

为实现上述目的，本实用新型提供一种零漂移运算放大器测试电路，用于对被测运放进行测试，其特点是，该测试电路包含：

辅助运放，其正输入端电路连接被测运放的输出端，其输出端输出辅助运放输出；该辅助运放与被测运放构成负反馈闭环系统；

第一控制开关、第二控制开关、第三控制开关和第四控制开关；其分别外接偏置电压源，控制测试电路连接外接的参考电压或对地设定电压；第一控制开关电路连接被测运放的正输入端与负输入端，第二控制开关电路连接被测运放的正输入端，第三控制开关电路连接辅助运放的正输入端，第四控制开关电路连接辅助运放的负输入端；

输入端外接信号端口和输出端外接信号端口，其分别外接测试仪器；输入端外接信号端口电路连接被测运放正输入端，输出端外接信号端口电路连接被测运放输出端。

该测试电路还包含：

反馈电阻，其两端电路连接被测运放的正输入端与输出端；

输入电阻，其一端电路连接第一控制开关，另一端电流连接被测运放的输入端、第二控制开关与反馈电阻；

该输入电阻与反馈电阻的比例确定辅助运放与被测运放构成的负反馈闭环系统的闭环增益，

上述辅助运放与被测运放所构成的负反馈闭环系统的闭环增益采用500倍或1000倍。

该测试电路包含并联连接的若干阻值相等的输入电阻，其分别电路连接被测运放的正输入端或负输入端。

上述输入电阻并联连接有补偿电容。

该测试电路还包含：偏置电流采样电阻，其一端电路连接所述输入电阻、反馈电阻与第二控制开关，另一端电路连接被测运放的输入端；用于被测运放输入端偏置电流的采样。

该测试电路包含并联连接的若干阻值相等的偏置电流采样电阻，其分别一端电路连接输入电阻，另一端电路连接被测运放的正输入端或负输入端。

本实用新型零漂移运算放大器测试电路和现有技术的运放测试板相比，其优点在于，本实用新型电路结构简单，使用方便，易于实现；能够以最小成本解决通用型运算放大器及零漂移运算放大器电气参数检测及量产测试。

附图说明

图1为本实用新型零漂移运算放大器测试电路的电路图。

具体实施方式

以下结合附图，进一步说明本实用新型的具体实施例。

如图1所示，本实用新型公开一种零漂移运算放大器测试电路，该测试电路用于对被测运放DUT的参数进行量产测试。

该零漂移运算放大器测试电路包含：辅助运放U1、第一控制开关S9、第二控制开关S10、第三控制开关S5、第四控制开关S6、输入端外接信号端口IN、输出端外接信号端口OUT、反馈电阻RF、输入电阻Ri、偏置电流采样电阻RB。

被测运放DUT接VDD、VSS，接VDD端通过0.1微法（uF）的电容C1接地，接VSS端通过0.1微法（uF）的电容C2接地。