[实用新型]一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置有效

专利信息
申请号: 201320478906.5 申请日: 2013-08-06
公开(公告)号: CN203405181U 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 周华飞;秦良忠;豆红尧;谢子令 申请(专利权)人: 温州大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京中北知识产权代理有限公司 11253 代理人: 程春生
地址: 325000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 光学 原理 平面 变形 快捷 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型属于光学测量领域,具体涉及一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置。

背景技术

变形是自然界普遍存在的现象,它是指变形体在各种荷载作用下,其形状、大小及位置在时间域和空间域的变化。在工程领域方面,当变形量不超过一定范围时不会造成危害;如果超过变形体所能承受的允许值,则可能引发严重的灾难。因此,对结构进行定期的变形测量显得非常重要。

目前,应变片是最常见的变形测量仪器,但应变片一般存在以下三个缺点:1、温度变化引起应变片敏感栅电阻变化、试件材料与敏感栅材料的线膨胀系数不同,两者皆会产生附加应变,引起较大的测量误差;2、应变片的量程有限,在大应变下具有较大的非线性;3、应变片的输出信号较微弱,在复杂的环境下,抗干扰能力较差。

实用新型内容

本实用新型针对上述现有技术的不足,提供了一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置,可在不同位置多次对平面结构的变形进行测量,具有操作简单,成本低廉、耐高温和精度高等特点。

本实用新型是通过如下技术方案实现的:

一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置,其特征在于,包括四片呈十字形排列的镍镉板和数码相机,所述四片镍镉板包括两片横向设置的第一镍镉板和第二镍镉板,以及两片纵向设置的第三镍镉板和第四镍镉板,每片镍镉板上均开设有一螺栓槽,所述螺栓槽内安装有一螺栓,所述螺栓可沿螺栓槽滑动;所述螺栓的底端固定在待测物体上;

所述第一镍镉板上固定设置有第一横向标志物和第二横向标志物,第二镍镉板上固定设置有第三横向标志物;第一横向标志物、第二横向标志物和第三横向标志物的中心点位于同一横向直线上;第二横向标志物位于第一横向标志物和第三横向标志物之间;

所述第三镍镉板上固定设置有第一纵向标志物和第二纵向标志物,第四镍镉板上固定设置有第三纵向标志物;第一纵向标志物、第二纵向标志物和第三纵向标志物的中心点位于同一纵向直线上;第二纵向标志物位于第一纵向标志物和第三纵向标志物之间;所述横向直线与纵向直线相互垂直。

本实用新型的进一步设置在于,所述第一横向标志物、第二横向标志物、第三横向标志物、第一纵向标志物、第二纵向标志物和第三纵向标志物均为氮化硅,所述氮化硅焊接在镍镉板上。

本实用新型所述的基于光学原理的平面变形快捷测量装置,可在不同位置多次对平面结构的变形进行测量,具有操作简单,成本低廉、耐高温和精度高等特点;利用该平面变形快捷测量装置对待测物进行多次测量,可以得到随着时间的变化,待测物体的变形规律。将变形值与物体所能承受的允许变形值进行比较,从而对结构的安全性能进行有效的评估。

附图说明

图1为本实用新型所述基于光学原理的平面变形快捷测量装置的结构图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细的说明。

如图1所示,本实用新型提供了一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置,包括四片呈十字形排列的镍镉板和数码相机,由于镍镉材料具有稳定的化学性质,没有明显的热胀冷缩现象,在测量时,镍镉板自身不发生变形。

所述四片镍镉板包括两片横向设置的第一镍镉板1和第二镍镉板2,以及两片纵向设置的第三镍镉板3和第四镍镉板4,每片镍镉板上均开设有一螺栓槽11,所述螺栓槽11内安装有一螺栓12,所述螺栓12可沿螺栓槽11滑动,并在任意一个位置进行固定。所述螺栓12的底端固定在待测物体上;四片镍镉板相互呈90°夹角。

所述第一镍镉板1上固定设置有第一横向标志物5和第二横向标志物6,第二镍镉板2上固定设置有第三横向标志物7;第一横向标志物5、第二横向标志物6和第三横向标志物7的中心点位于同一横向直线上;第二横向标志物6位于第一横向标志物5和第三横向标志物7之间;

所述第三镍镉板3上固定设置有第一纵向标志物8和第二纵向标志物9,第四镍镉板4上固定设置有第三纵向标志物10;第一纵向标志物8、第二纵向标志物9和第三纵向标志物10的中心点位于同一纵向直线上;第二纵向标志物9位于第一纵向标志物8和第三纵向标志物10之间;所述横向直线与纵向直线相互垂直。

所述第一横向标志物5、第二横向标志物6、第三横向标志物7、第一纵向标志物8、第二纵向标志物9和第三纵向标志物10均为氮化硅,所述氮化硅焊接在镍镉板上,氮化硅在光照下能提供良好的光学测量效果。

本实施例中第一镍镉板1上的两标志物5和6中心点距离设置为3mm,第三镍镉板3上的两标志8和9中心点距离也设置为3mm。

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