[实用新型]一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置有效
申请号: | 201320478906.5 | 申请日: | 2013-08-06 |
公开(公告)号: | CN203405181U | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 周华飞;秦良忠;豆红尧;谢子令 | 申请(专利权)人: | 温州大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 北京中北知识产权代理有限公司 11253 | 代理人: | 程春生 |
地址: | 325000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 光学 原理 平面 变形 快捷 测量 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于光学测量领域,具体涉及一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置。
背景技术
变形是自然界普遍存在的现象,它是指变形体在各种荷载作用下,其形状、大小及位置在时间域和空间域的变化。在工程领域方面,当变形量不超过一定范围时不会造成危害;如果超过变形体所能承受的允许值,则可能引发严重的灾难。因此,对结构进行定期的变形测量显得非常重要。
目前,应变片是最常见的变形测量仪器,但应变片一般存在以下三个缺点:1、温度变化引起应变片敏感栅电阻变化、试件材料与敏感栅材料的线膨胀系数不同,两者皆会产生附加应变,引起较大的测量误差;2、应变片的量程有限,在大应变下具有较大的非线性;3、应变片的输出信号较微弱,在复杂的环境下,抗干扰能力较差。
实用新型内容
本实用新型针对上述现有技术的不足,提供了一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置,可在不同位置多次对平面结构的变形进行测量,具有操作简单,成本低廉、耐高温和精度高等特点。
本实用新型是通过如下技术方案实现的:
一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置,其特征在于,包括四片呈十字形排列的镍镉板和数码相机,所述四片镍镉板包括两片横向设置的第一镍镉板和第二镍镉板,以及两片纵向设置的第三镍镉板和第四镍镉板,每片镍镉板上均开设有一螺栓槽,所述螺栓槽内安装有一螺栓,所述螺栓可沿螺栓槽滑动;所述螺栓的底端固定在待测物体上;
所述第一镍镉板上固定设置有第一横向标志物和第二横向标志物,第二镍镉板上固定设置有第三横向标志物;第一横向标志物、第二横向标志物和第三横向标志物的中心点位于同一横向直线上;第二横向标志物位于第一横向标志物和第三横向标志物之间;
所述第三镍镉板上固定设置有第一纵向标志物和第二纵向标志物,第四镍镉板上固定设置有第三纵向标志物;第一纵向标志物、第二纵向标志物和第三纵向标志物的中心点位于同一纵向直线上;第二纵向标志物位于第一纵向标志物和第三纵向标志物之间;所述横向直线与纵向直线相互垂直。
本实用新型的进一步设置在于,所述第一横向标志物、第二横向标志物、第三横向标志物、第一纵向标志物、第二纵向标志物和第三纵向标志物均为氮化硅,所述氮化硅焊接在镍镉板上。
本实用新型所述的基于光学原理的平面变形快捷测量装置,可在不同位置多次对平面结构的变形进行测量,具有操作简单,成本低廉、耐高温和精度高等特点;利用该平面变形快捷测量装置对待测物进行多次测量,可以得到随着时间的变化,待测物体的变形规律。将变形值与物体所能承受的允许变形值进行比较,从而对结构的安全性能进行有效的评估。
附图说明
图1为本实用新型所述基于光学原理的平面变形快捷测量装置的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细的说明。
如图1所示,本实用新型提供了一种基于光学原理的平面变形快捷测量装置,包括四片呈十字形排列的镍镉板和数码相机,由于镍镉材料具有稳定的化学性质,没有明显的热胀冷缩现象,在测量时,镍镉板自身不发生变形。
所述四片镍镉板包括两片横向设置的第一镍镉板1和第二镍镉板2,以及两片纵向设置的第三镍镉板3和第四镍镉板4,每片镍镉板上均开设有一螺栓槽11,所述螺栓槽11内安装有一螺栓12,所述螺栓12可沿螺栓槽11滑动,并在任意一个位置进行固定。所述螺栓12的底端固定在待测物体上;四片镍镉板相互呈90°夹角。
所述第一镍镉板1上固定设置有第一横向标志物5和第二横向标志物6,第二镍镉板2上固定设置有第三横向标志物7;第一横向标志物5、第二横向标志物6和第三横向标志物7的中心点位于同一横向直线上;第二横向标志物6位于第一横向标志物5和第三横向标志物7之间;
所述第三镍镉板3上固定设置有第一纵向标志物8和第二纵向标志物9,第四镍镉板4上固定设置有第三纵向标志物10;第一纵向标志物8、第二纵向标志物9和第三纵向标志物10的中心点位于同一纵向直线上;第二纵向标志物9位于第一纵向标志物8和第三纵向标志物10之间;所述横向直线与纵向直线相互垂直。
所述第一横向标志物5、第二横向标志物6、第三横向标志物7、第一纵向标志物8、第二纵向标志物9和第三纵向标志物10均为氮化硅,所述氮化硅焊接在镍镉板上,氮化硅在光照下能提供良好的光学测量效果。
本实施例中第一镍镉板1上的两标志物5和6中心点距离设置为3mm,第三镍镉板3上的两标志8和9中心点距离也设置为3mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于温州大学,未经温州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320478906.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种气动夹紧装置
- 下一篇:一种用于加工缓冲器中心楔块的工装