[实用新型]测试夹具有效
申请号: | 201320480672.8 | 申请日: | 2013-08-07 |
公开(公告)号: | CN203385762U | 公开(公告)日: | 2014-01-08 |
发明(设计)人: | 丁海幸;宋妮 | 申请(专利权)人: | 华为终端有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/067 |
代理公司: | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人: | 李楠 |
地址: | 518129 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 夹具 | ||
技术领域
本实用新型实施例涉及通信技术领域,尤其涉及一种测试夹具。
背景技术
在PCB,Printed Circuit Board,印刷电路板的生产过程中,需要大量的布局、焊接及其他工艺步骤,因此,测试与检验对于生产出高质量的印刷电路板极其重要。目前业界普遍的PCB表面处理方式为在PCB板上进行两道处理工序,在PCB焊接区域采用OSP,Organic Solderability Preservatives,有机可焊性保护涂层处理,即在PCB焊接区域镀一层有机可焊性保护涂层。在PCB测试点区域采用ENIG,Electroless Nickel and Immersion Gold,化学镍金处理,即在PCB测试点区域镀一层镍金。对PCB分别采用OSP和ENIG两种表面处理方式,需要两道表面处理工序,增加了PCB制作成本以及制作周期,因而在制作过程中,考虑减少一道表面处理工序,将PCB全板进行OSP处理。
在现有技术一中,将PCB全板进行OSP处理,但是OSP膜不导电,因而在对PCB进行测试的时候,需要用探针刺破OSP膜,使得探针与PCB相接触,才能进行测试。为了刺破OSP膜需要增大测试探针的压力,但是压力的控制十分困难,压力小无法刺破OSP膜,压力大则可能会刺破焊盘的铜皮造成PCB内部短路。
在现有技术二中,将PCB全板进行OSP处理,为了解决OSP膜不导电问题,对OSP焊盘印刷锡膏后回流上锡,即在测试点区域进行镀锡处理。但是镀锡区域的锡面不平整,使得测试探针容易打滑导致接触不良;且上锡后锡面上常有助焊剂残留,也会造成接触不良增加误测率。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的是提出一种测试夹具,旨在解决现有技术的PCB测试中,探针与PCB接触不良导致的误测率增加的问题。
为实现上述目的,本实用新型实施例提供了一种测试夹具,所述测试夹具包括:载板,用于放置待测试对象;上盖板,与所述载板相扣合,将所述待测试对象置于所述上盖板内;探针,一端固定在所述上盖板上,另一端与所述待测试对象触接;液体存储装置,设置在所述上盖板上,用于存储腐蚀性液体,所述液体存储装置上设置有输液管,当所述探针另一端与所述待测试对象触接时,所述输液管输送所述腐蚀性液体到所述待测试对象表面。
本实用新型实施例提出的测试夹具,当探针与待测试对象接触时,利用腐蚀性液体将待测试对象表面的保护膜腐蚀,探针与被腐蚀掉保护膜处的待测试对象相接触,使得探针与待测试对象充分接触,有效降低了误测率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例测试夹具示意图;
图2为本实用新型实施例测试夹具局部示意图之一;
图3为本实用新型实施例测试夹具局部示意图之二;
图4为利用本实用新型测试夹具进行测试的方法流程图。
具体实施方式
下面通过附图和实施例,对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。
本实用新型实施例提出了一种测试夹具,通过在测试夹具上设置液体存储装置,当探针与待测试对象接触时,液体存储装置内的腐蚀性液体通过输液管输送到待测试对象表面,将待测试对象表面的保护膜腐蚀掉,使得探针与被腐蚀掉保护膜处的待测试对象相接触,从而对待测试对象进行测试。
图1为本实用新型实施例测试夹具示意图,如图1所示,本实用新型实施例的测试机夹具包括:载板10、上盖板20、探针30和液体存储装置40。
载板10用于放置待测试对象50,当待测试对象50放置在载板10上时,可将上盖板20扣合在载板10上,此时待测试对象50置于上盖板20内,即待测试对象50置于载板10与上盖板20围合形成的空间内。
待测试对象50可以为印刷电路板或其它物质。
待测试对象50上下表面覆盖有保护涂层51。当待测试对象50为印刷电路板时,所述保护涂层51可以为OSP膜,OSP膜可以有效防止印刷电路板在使用过程中氧化,但OSP膜不可导电。
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