[实用新型]动态闪存分散使用装置

说明书

技术领域

本实用新型有关于一种动态闪存分散使用装置，尤指一种可于储存数据时，利用样本产生单元与校正侦测器的配合，进行I/0平均数的侦测，以作为数据是否符合储存条件的依据，进而可均匀分散闪存储存空间的数据，而达到增加使用寿命以及提升使用可靠度的功效。

背景技术

由于闪存具有数据非挥发性、省电、体积小等特性，因此，常被作为携带式储存装置使用。

一般而言，闪存储存装置中具有用以储存数据的数据区、用以储存备份数据的备用区、用以储存相关重要信息的系统区、以及用以取代数据区或备用区中已损坏部分的取代区。

当数据读写使用过程中，该闪存并无分散数据储存空间的技术，因此，常会使得闪存中有某些特定储存地址被经常性地写入或更新数据，然，由于闪存的抹除次数是有限的（例如：抹除一万次后就会损坏），所以在频繁地抹除及写入下，便易于造成特定储存空间的损坏，闪存的储存寿命将大幅缩短，而导致使用时的可靠度降低。

有鉴于此，本案设计人特针对前述已用问题深入探讨，并藉由多年从事相关产业研发与制造经验，积极寻求解决之道，经过长期努力的研究与发展，终于成功地开发出本实用新型，藉以改善已用的种种问题。

发明内容

本实用新型主要目的在于，可于储存数据时，利用样本产生单元与校正侦测器的配合，进行I/0平均数的侦测，以作为数据是否符合储存条件的依据，进而可均匀分散使用闪存的储存空间，而达到增加使用寿命以及提升使用可靠度的功效。

为达上述目的，本实用新型为一种动态闪存分散使用装置，其包含有：一主机机构；一与主机机构连接的运算单元；一与主机机构连接的直接内存存取单元；一连接主机机构与直接内存存取单元的错误检查及校正编码器；一与错误检查及校正编码器连接的样本产生单元；一与样本产生单元连接的校正侦测器；以及一连接错误检查及校正编码器与校正侦测器的闪存。

于本实用新型上述实施例中，该主机机构、运算单元、直接内存存取单元、错误检查及校正编码器、样本产生单元、校正侦测器以及闪存结合设于一壳体中。

于本实用新型上述实施例中，该主机机构包含有一主机、及一与主机连接的认证单元。

于本实用新型上述实施例中，该样本产生单元包含有一随机数产生器、及一与随机数产生器连接的时序电路。

于本实用新型上述实施例中，该校正侦测器侦测I/0比值是否介于1±20％的变量中。

于本实用新型上述实施例中，该校正侦测器中进一步包含有计算单元。

于本实用新型上述实施例中，该闪存中具有一备用位区，可供存放种子与各数据的对应关系。

于本实用新型上述实施例中，该样本产生单元与校正侦测器之间更可进一步连接有一作为记录使用的韧体单元。

附图说明

图１为本实用新型第一实施例基本架构示意图。

图２为本实用新型第一实施例方块示意图。

图３为本实用新型示第一实施例样本产生单元与校正侦测器示意图。

图４为本实用新型第二实施例方块示意图。

组件标号对照：

主机机构１；

主机１１；

认证单元１２；

运算单元２；

直接内存存取单元３；

错误检查及校正编码器４；

样本产生单元５；

随机数产生器５１；

时序电路５２；

校正侦测器６；

计算单元６１；

闪存７；

备用位区７１；

韧体单元８；

壳体９；

资料a。

具体实施方式

请参阅图１、２及图３所示，分别为本实用新型第一实施例基本架构示意图、本实用新型第一实施例方块示意图及本实用新型第一实施例的样本产生单元与校正侦测器示意图。如图所示：本实用新型为一种动态闪存分散使用装置，其包含有一主机机构１、一运算单元２、一直接内存存取单元３、一错误检查及校正编码器４、一样本产生单元５、一校正侦测器６以及一闪存７所构成，而该主机机构１、运算单元２、直接内存存取单元３、错误检查及校正编码器４、样本产生单元５、校正侦测器６以及闪存７结合设于一壳体９中。

上述所提主机机构１包含有一主机１１及一与主机１１连接的认证单元１２。

该运算单元２与主机机构１连接。

该直接内存存取单元３与主机机构１连接。

该错误检查及校正编码器４连接主机机构１与直接内存存取单元３。