[实用新型]微粉粒度检测系统有效

专利信息
申请号: 201320495345.X 申请日: 2013-08-14
公开(公告)号: CN203385640U 公开(公告)日: 2014-01-08
发明(设计)人: 张海峰;朱明杰;党娟;翟路鹏 申请(专利权)人: 开封万盛新材料有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 河南科技通律师事务所 41123 代理人: 张建东
地址: 475000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 粒度 检测 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种粒度检测系统,具体涉及一种微粉粒度检测系统。

背景技术

目前对于微粉粒度的检测常会用到电阻法,采用电阻法颗粒计数器原理的粒度分析计数仪在检测微粉粒度过程中具有分辨率高、测量速度快的优点。但是,在实际使用中必须保证外接电源供应与粒度分析计数仪电力要求的电压和频率一致,如果供应的电源中含有高次谐波或者电压过高、过低不稳定时,就会造成粒度分析计数仪中脉冲不稳定现象,同时还会对搅拌电机的转速等造成影响,进而使检测结果出现误差。另外,粒度分析计数仪在工作过程中易受到电源和外部磁场辐射来的电磁干扰,从而可能导致测量结果出现错误。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种微粉粒度检测系统,这种微粉粒度检测系统能够为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压,并且不会产生影响粒度分析计数仪测量结果的外部电磁干扰。

为解决上述技术问题,本实用新型采用如下技术方案:设计一种微粉粒度检测系统,包括电源、稳压器、粒度分析计数仪、计算机,其中,电源与稳压器的输入端连接,稳压器的输出端分别与粒度分析计数仪和计算机连接;计算机与粒度分析计数仪的控制端口相连接;粒度分析计数仪的接地端口接地。

采用上述微粉粒度检测系统的有益效果在于:电源通过稳压器与粒度分析计数仪和计算机连接,能够为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压,使粒度分析计数仪稳定、正常工作,避免因外部电源中含有高次谐波或者电压过高、过低不稳定造成粒度分析计数仪测量结果出现较大误差。

在上述技术方案中,优选的电源为UPS电源(不间断电源),能够进一步在电压过高或过低时提供保护,为粒度分析计数仪和计算机提供不间断的、稳定的电力供应。优选的稳压器为磁饱和式交流稳压器,在稳定电压的同时不会产生影响粒度分析计数仪测量结果的外部电磁干扰,保证粒度分析计数仪检测结果的准确性。进一步优选的粒度分析计数仪为Multisizer3库尔特粒度分析计数仪,其具有分辨精度高、易于操作的优点。

对于本实用新型的具体结构及其作用与效果,将在下面结合附图作出进一步详细的说明。

附图说明

图1为本实用新型微粉粒度检测系统的结构示意图。

图2为本实用新型微粉粒度检测系统中粒度分析计数仪的检测装置结构示意图。

其中1为样品台;2为样品杯;3为搅拌棒;4为小孔管;5为电极。

具体实施方式

本实用新型微粉粒度检测系统的结构如图1所示,包括电源、稳压器、粒度分析计数仪、计算机,其中,电源与稳压器的输入端连接,稳压器的输出端分别与粒度分析计数仪和计算机连接;计算机与所述粒度分析计数仪的控制端口相连接;粒度分析计数仪的接地端口接地。采用上述微粉粒度检测系统,能够为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压,使粒度分析计数仪稳定、正常工作,避免因外部电源中含有高次谐波或者电压过高、过低不稳定造成粒度分析计数仪测量结果出现较大误差。本实用新型微粉粒度检测系统中粒度分析计数仪的检测装置结构如图2所示,包括样品台1、样品杯2、搅拌棒3、小孔管4和电极5。

在上述技术方案中,优选的电源为UPS电源(不间断电源),能够进一步对电压过大和电压太低提供保护,为粒度分析计数仪和计算机提供不间断的、稳定的电力供应。优选的稳压器为磁饱和式交流稳压器,在稳定电压的同时不会产生影响粒度分析计数仪测量结果的外部电磁干扰,保证粒度分析计数仪检测结果的准确性。进一步优选的粒度分析计数仪为Multisizer3库尔特粒度分析计数仪,其具有分辨精度高、易于操作的优点。

下面以碳化硅微粉的粒度检测为例来说明本实用新型的具体实施方式及工作过程。

预设Multisizer3库尔特粒度分析计数仪的各项参数:Kd值:125±1;设备噪声水平检测值:≤2;自动检测时间:20s±10s;Particles值:1600;检测吸料孔孔径:50μm、100μm、200μm、400μm。

准备样品:取碳化硅微粉样品与水比例为1:30到1:50之间,其中水为去离子后电导小于2μs/cm;取样微粉颗粒总数:10000个至30000个;搅拌转速设置为400转/min到600转/min;取NaCl与水比例为0.9:100的检测溶液,其中水为去离子后电导小于2μs/cm,NaCl≥99.5%的分析纯;制备取样样品与检测溶液比例在1:10到1:20之间的待测样品。

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