[实用新型]一种抱料测试机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种抱料测试机构，尤其涉及一种对IC料进行抱料测试其导电性能的机构。

背景技术

传统对IC料的导电性能进行测试的测试机构，其挡料机构是固定不可移动的，使IC料从进料轨道进入到金手指测试机构后经常会出现IC料与金手指测试机构中的金手指触不良，导致对IC料的导电性能测试不准确，得到的产品合格率不准确，这大大影响了企业产品的测试质量，因此，针对传统IC料的测试机构技术的不足，通过改良IC料的测试机构的结构，研发一种通过启动夹爪气缸可对IC料进行抱料，通过挡料气缸可带动挡料机构横向移动，使IC料与金手指测试机构中的金手指位置相对应，接触良好，试测其导电性能准确的一种抱料测试机构确属必要。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种通过启动夹爪气缸可对IC料进行抱料，通过挡料气缸可带动挡料机构横向移动，使IC料与金手指测试机构中的金手指位置相对应，接触良好，试测其导电性能准确的一种抱料测试机构。

本实用新型采用如下技术方案：一种抱料测试机构，包括金手指测试机构，及设置在金手指测试机构前面的IC进料轨道，及设置在IC进料轨道上方的挡料机构，及设置在挡料机构上方的挡料气缸，及设置在挡料气缸左侧的夹爪气缸。

进一步地，所述IC进料轨道的方向设置与金手指的方向垂直。

进一步地，所述夹爪气缸与金手指之间设置有夹爪支架；所述夹爪支架设置在金手指的下面。

本实用新型的一种抱料测试机构，包括金手指测试机构，及设置在金手指测试机构前面的IC进料轨道，及设置在IC进料轨道上方的挡料机构，及设置在挡料机构上方的挡料气缸，及设置在挡料气缸左侧的夹爪气缸。本实用新型的一种抱料测试机构，由于设置有夹爪气缸和夹爪支架，可实现了对从进料轨道进入到金手指测试机构中的IC料进行夹紧抱料；又由于设置有挡料气缸和挡料机构，挡料气缸运动带动挡料机构可在水平方向上横向移动，可对进入到金手指测试机构中的IC料的位置进行调整，使其与金手指的位置相对应，确保接触良好，方便测试IC料的导电性能，确保了对IC料测试结果的准确性，确保得到准确的产品合格率，提高了企业的产品测试质量。

附图说明

图1为本实用新型一种抱料测试机构的结构示意图。

具体实施方式

本实施例中，参照图1所示，一种抱料测试机构，包括金手指测试机构1，及设置在金手指测试机构1前面的IC进料轨道2，及设置在IC进料轨道2上方的挡料机构3，及设置在挡料机构3上方的挡料气缸4，及设置在挡料气缸4左侧的夹爪气缸5。

其中，所述IC进料轨道2的方向设置与金手指6的方向垂直。所述夹爪气缸5与金手指6之间设置有夹爪支架7；所述夹爪支架7设置在金手指6的下面。

工作时，IC料通过IC进料轨道2进入到金手指测试机构1，通过横向调节移动挡料机构3把IC料固定在与金手指6相对应的位置上，确保IC料与金手指6接触良好；再启动夹爪气缸5，使夹爪支架7对IC料进行夹紧抱料，方便金手指测试机构1对IC料的导电性能进行测试，确保了测试结果的准确性。

本实用新型的一种抱料测试机构，包括金手指测试机构，及设置在金手指测试机构前面的IC进料轨道，及设置在IC进料轨道上方的挡料机构，及设置在挡料机构上方的挡料气缸，及设置在挡料气缸左侧的夹爪气缸。本实用新型的一种抱料测试机构，由于设置有夹爪气缸和夹爪支架，可实现了对从进料轨道进入到金手指测试机构中的IC料进行夹紧抱料；又由于设置有挡料气缸和挡料机构，挡料气缸运动带动挡料机构可在水平方向上横向移动，可对进入到金手指测试机构中的IC料的位置进行调整，使其与金手指的位置相对应，确保接触良好，方便测试IC料的导电性能，确保了对IC料测试结果的准确性，确保得到准确的产品合格率，提高了企业的产品测试质量。

上述实施实例，只是本实用新型的一个实例，并不是用来限制本实用新型的实施与权利范围，凡与本实用新型权利要求所述内容相同或等同的技术方案，均应包括在本实用新型保护范围内。