[实用新型]一种夹料测试机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种夹料测试机构。

背景技术

目前，对IC料的测试封装比较常用的有人手测试和机台自动测试，人手测试具有工作效率低的缺点。用机台自动测试又有重力下滑式和拣取放置式这两种之分，然而目前重务下滑式测试设备中，只适用于封装管脚大，间距宽的IC，对于胶体比较薄、管脚小，间距宽的IC料存在测试精准度低、容易损伤管脚 ，造成产品成品率低等缺点。如果用拣取放置式测试方法，其具有设备成本高，使用维护难度大的缺点。因此，针对现有IC料的测试方式技术的不足，通过改良IC料的测试机构的结构，研发一种可根据测试的IC料大细不同而进行调节测试的间距宽，测试精准度高，测试效率高，成品率高的一种夹料测试机构确属必要。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种可根据测试的IC料大细不同而进行调节测试的间距宽，测试精准度高，测试效率高，成品率高的一种夹料测试机构。

本实用新型采用如下技术方案：一种夹料测试机构，包括IC进料轨道，及设置在IC进料轨道后面的金手指，及设置在金手指上面的第一夹测机构和第二夹测机构，及设置在第一夹测机构上面的第一夹测滑块，及设置在第二夹测机构上面的第二夹测滑块，及设置在第二夹测滑块上面的万向接头，及设置在万向接头上面的可调节气缸，及设置在可调节气缸上面的螺母。

进一步地，所述第一夹测滑块和第二夹测滑块之间设置有夹测杠杆。

进一步地，所述第一夹测机构设置有一对以上，每对所述第一夹测机构设置在每个第二夹测机构的左、右两侧。

进一步地，所述金手指设置有一对以上；所述万向接头设置有一个以上；所述可调节气缸设置有一个以上；所述螺母也设置有一个以上。

进一步地，所述可调节气缸与万向接头相连接设置有螺栓。

本实用新型的一种夹料测试机构，包括IC进料轨道，及设置在IC进料轨道后面的金手指，及设置在金手指上面的第一夹测机构和第二夹测机构，及设置在第一夹测机构上面的第一夹测滑块，及设置在第二夹测机构上面的第二夹测滑块，及设置在第二夹测滑块上面的万向接头，及设置在万向接头上面的可调节气缸，及设置在可调节气缸上面的螺母。本实用新型的一种夹料测试机构，通过可调节气缸，万向接头带动第一夹测机构和第二夹测机构运作，使第一夹测机构在金手指的下端向上推，第二夹测机构在金手指的上端向下压进行夹紧IC料测试，实现测试精准度高，测试效率高，成品率高；通过旋转螺母，可实现所需测试IC料的大细不同而进行调节测试的间距宽，使用更加便捷。

附图说明

图1为本实用新型一种夹料测试机构的结构示意图。

具体实施方式

本实施例中，参照图1所示，一种夹料测试机构，包括IC进料轨道1，及设置在IC进料轨道1后面的金手指2，及设置在金手指2上面的第一夹测机构3和第二夹测机构4，及设置在第一夹测机构3上面的第一夹测滑块5，及设置在第二夹测机构4上面的第二夹测滑块6，及设置在第二夹测滑块6上面的万向接头7，及设置在万向接头7上面的可调节气缸8，及设置在可调节气缸8上面的螺母9。

其中，所述第一夹测滑块5和第二夹测滑块6之间设置有夹测杠杆10。所述第一夹测机构3设置有一对以上，每对所述第一夹测机构3设置在每个第二夹测机构4的左、右两侧。所述金手指2设置有一对以上；所述万向接头7设置有一个以上；所述可调节气缸8设置有一个以上；所述螺母9也设置有一个以上。所述可调节气缸8与万向接头7相连接设置有螺栓11。

工作时，IC料经IC进料轨道1进入到一对金手指2之间的位置，所述金手指2用于夹紧IC料的两端进行测试。所述第一夹测机构3用于把金手指2的下端向上推，所述第二夹测机构4用于把金手指2的上端往下压，有利于使金手指2夹紧IC料的两端。所述第一夹测滑块5用于使第一夹测机构3运作时保持纵向移动，不会出现左右摇摆。所述第二夹测滑块6用于使第二夹测机构4运作时保持纵向移动，不会出现左右摇摆，确保了测试的精准度高，测试效率高，成品率高。通过旋转螺母9带动可调节气缸8、万向接头7可调节第二夹测机构4的高低，进而可调节测试位置的间距宽。