[实用新型]用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及验光仪检测技术领域，更具体地，涉及一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置。

背景技术

综合验光仪是一种可实现机械化的更换镜片从而实现屈光检查的功能的综合性屈光检查的仪器。综合验光仪的主要计量性能指标有：球镜顶焦度，柱镜顶焦度，棱镜度，柱镜轴位等。

综合验光仪在生产、组装、使用的过程中，其性能指标有可能发生变化，这样就会导致验光不准，从而影响验光师的判断。现有技术中还没有用于检测综合验光仪的性能指标的光学检测装置，因而无法对综合验光仪的性能指标、验光准确性进行量化判断。

在测量镜片的基底取向时，需要使发光装置（带有分划板）在光学检测装置内转动一定角度，而现有技术中还没有可用于上述光学检测装置中的发光装置。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置，以解决现有技术中带有分划板的发光装置无法转动的问题。

为解决上述技术问题，根据本实用新型的一个方面，提供了一种发光装置，包括：光源；分划板；发光筒，光源和分划板分别设置在发光筒的两端；安装座，发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。

进一步地，发光装置还包括用于测量发光筒的转动角度的检测元件，检测元件与发光筒连接。

进一步地，检测元件为旋转编码器，旋转编码器与发光筒同轴设置。

进一步地，发光装置还包括联轴器，发光筒通过联轴器与旋转编码器连接。

进一步地，发光装置还包括套筒，发光筒的一部分可转动地穿设在套筒内，套筒与安装座连接。

进一步地，发光装置还包括驱动部，驱动部与发光筒相连接并驱动发光筒旋转运动。

进一步地，驱动部包括第一旋钮和传动件，第一旋钮通过传动件与发光筒连接。

进一步地，传动件包括第一滑轮、第二滑轮、第三滑轮和钢丝绳，钢丝绳依次绕设过第一滑轮、第二滑轮和第三滑轮，并与第一旋钮连接，第一滑轮与发光筒连接并同轴转动。

根据本实用新型的另一个方面，提供了一种用于检测综合验光仪的光学检测装置，包括：基座；光学系统，光学系统设置在基座上，光学系统包括调焦元件；发光装置，发光装置为上述的发光装置，发光装置的安装座设置在基座上，且发光装置朝向光学系统的入射光口设置；测量单元，用于检测光学系统的调焦元件的移动距离。

本实用新型中的光源和分划板分别设置在发光筒的两端，发光筒绕发光筒的轴线可枢转地设置在安装座上。由于本实用新型中的光源和分划板集成在发光装置的发光筒中，因而发光装置既能在光学系统中起到照亮光路的作用，还是光学系统中的目标参考物，从而简化了光学系统的结构，提高了光学系统的工作可靠性。由于设置有分划板的发光筒可枢转地设置在安装座上，因而提高了发光装置的运动自由度，使发光装置可以满足不同光学系统的使用要求，从而扩大了发光装置的使用范围、提高了发光装置的使用可靠性。同时，本实用新型中的发光装置具有结构简单、制造成本低的特点。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1示意性示出了本实用新型中的光学检测装置的一个角度的结构示意图；

图2示意性示出了本实用新型中的光学检测装置的另一个角度的结构示意图；以及

图3示意性示出了本实用新型中的光学检测装置的剖视图。

图中附图标记：10、光源；20、分划板；30、发光筒；40、安装座；50、检测元件；60、联轴器；70、套筒；80、驱动部；81、第一旋钮；82、传动件；82a、第一滑轮；82b、第二滑轮；82c、第三滑轮；100、基座；200、光学系统；210、调焦元件；220、第一物镜；230、第一反光元件；240、分光元件；250、第二物镜；260、成像元件；270、第二反光元件；280、光阑；300、发光装置；400、测量单元；500、平行光管；510、透光孔；600、导向管；610、限位槽；700、导杆；710、第二旋钮。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明，但是本实用新型可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。