[实用新型]一种显示器底托支架平坦度测量装置有效

专利信息
申请号: 201320582623.5 申请日: 2013-09-18
公开(公告)号: CN203454948U 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 张加凯 申请(专利权)人: 天津三星电子有限公司;三星电子株式会社
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/28
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人: 韩新城
地址: 300457 天津市滨海*** 国省代码: 天津;12
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 显示器 支架 平坦 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型属于显示器制造技术领域,具体涉及一种显示器底托支架平坦度测量装置。

背景技术

显示器是人们日常生活、工作中影音设备的重要工具,显示器的左右高度差是对显示器整机品质影响大的性能参数;对显示器的使用效果有着至关重要的作用,显示器左右高度差不良会对用户造成使用不便。因为显示器结构的特殊性,现用技术中很难对显示器的左右高度差进行测量判定,大都凭据检验员主观感觉操作判定;或者整机组装后测量,严重影响量产性。在检验员凭感觉主观检验判定下,主观性过强,且误差较大;组装整机后测量,作业难度大,量产性极差,无法实现100%全检。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决上述技术问题而提供一种显示器底托支架平坦度测量装置,通过对显示器底托支架的平坦度检测来确保显示器整机的平坦度。

为实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

一种显示器底托支架平坦度测量装置,包括:

定位单元,用于定位待测底托支架;

移动测量单元,包括测量仪固定装置、两根平行设置的直线导轨,所述测量仪固定装置固定有至少一个平坦度测量仪,在驱动装置驱动下,沿所述直线导轨向所述待测底托支架移动,所述平坦度测量仪的测量端与所述待测底托支架上测量点对齐。

所述定位单元包括定位块,所述定位块内设有可将待测底托支架吸住定位的磁铁。

所述磁铁镶嵌在所述定位块中。

所述测量仪固定装置包括一底板以及与所述底板垂直连接的立板,所述底板的底端面设有与所述直线导轨相配合的运动导轨,所述平坦度测量仪安装在所述立板上。

所述平坦度测量仪采用至少两个数显式千分尺,根据所述数显式千分尺的检测数值差是否在预设范围内,来判断所述待测底托支架的平坦度是否合格。

所述驱动装置采用气缸。

本实用新型在驱动装置驱动下使测量仪固定装置沿直线导轨向被定位的待测底托支架移动,使测量仪固定装置上安装的平坦度测量仪的测量端与待测底托支架的上测量点对齐接触测量,实现了对显示器底托支架平坦度的精准检验,从而保证了装配后的显示器左右高度差在合理范围内。

附图说明

图1所示为本实用新型实施例提供的一种显示器底托支架平坦度测量装置的结构示意图:

图2所示为本实用新型实施例提供的定位单元与待测底托支架的连接示意图。

具体实施方式

下面,结合实例对本实用新型的实质性特点和优势作进一步的说明,但本实用新型并不局限于所列的实施例。

参见图1所示,该图示出了本实用新型实施例提供的一种显示器底托支架平坦度测量装置的结构。为了便于说明,仅示出了与本实用新型实施例有关的部分。

请参阅图1,一种显示器底托支架平坦度测量装置,包括:

定位单元1,用于定位待测底托支架3;

移动测量单元2,位于所述定位单元1一侧,包括测量仪固定装置26、两根平行设置的直线导轨21、22,所述测量仪固定装置26固定有至少一个平坦度测量仪,在驱动装置25驱动下,沿所述直线导轨21、22向所述的待测底托支架3移动,所述平坦度测量仪的测量端与所述待测底托支架3上测量点对齐。

所述定位单元1与所述移动测量单元2采用可更换的镶块结构嵌入在一平面基台上,这样方便根据不同型号的显示器底托支架的进行更换不同型号的定位单元1与移动测量单元2进行测量。

参见图2所示,该图2示了本实用新型实施例提供的定位单元1与待测底托支架3的定位连接方式,本实用新型实施例中,所述定位单元1包括定位块11,所述定位块11的定位端具有与待测底托支架3相应端相适应的定位结构,所述定位块11内设有可将待测底托支架3吸住定位的磁铁12。

所述待测底托支架3上相对所述定位块11的端具有可由磁铁12吸住的铁质或钢质材料,利用该铁质或钢质材料与所述磁铁12吸附,并通过所述定位结构保证该待测底托支架3固定不动,从而实现将所述待测底托支架3定位固定吸附在所述定位单元1上。

进一步的,所述测量仪固定装置26包括一底板261以及与所述底板261垂直连接的立板262,所述底板261下端设有与所述直线导轨21、22相配合的两根运动导轨263,所述平坦度测量仪安装在所述立板262上。

进一步的,本实用新型实施例中,所述平坦度测量仪采用至少两个数显式千分尺23、24,根据所述数显式千分尺23、24的检测数值差是否在预设范围内,来判断所述待测底托支架3的平坦度是否合格。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津三星电子有限公司;三星电子株式会社,未经天津三星电子有限公司;三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201320582623.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top