[实用新型]一种宽照度全色成像探测芯片

权利要求书

1.一种宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，包括面阵电控双模平面液晶微透镜、面阵全色探测器和驱控预处理模块；其中，

所述面阵全色探测器被划分成多个阵列分布的子面阵全色探测器，每个子面阵全色探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元；

所述面阵电控双模平面液晶微透镜与所述面阵全色探测器匹配耦合，包括多个阵列分布的单元电控双模平面液晶微透镜，每单元电控双模平面液晶微透镜与一个子面阵全色探测器对应；

所述面阵电控双模平面液晶微透镜基于入射光的强度，对其进行定向汇聚、发散或维持光束的空间传输形态，从而在各子面阵全色探测器上形成小尺寸汇聚光斑、具有相对较暗的中心漏光场的大尺寸亮环或基于成像光学系统构建的汇聚光束所形成的聚焦斑；

所述面阵全色探测器执行从光到电的光电转换操作，得到光电响应信号；

所述驱控预处理模块提取所述面阵全色探测器上的光敏元的非饱和光电响应信号，并进行量化和非均匀性校正，得到目标图像数据。

2.如权利要求1所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，所述面阵电控双模平面液晶微透镜与所述面阵全色探测器均为m×n元，其中，m、n均为大于1的整数。

3.如权利要求1所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，所述子面阵全色探测器为p×q元，其中，p、q均为大于1的整数。

4.如权利要求1至3中任一项所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块采用SoC与FPGA结合的结构。

5.如权利要求1所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块还用于为所述面阵电控双模平面液晶微透镜和所述面阵全色探测器提供驱动和调控信号，驱动所述面阵电控双模平面液晶微透镜和所述面阵全色探测器工作，并对施加在所述面阵电控双模平面液晶微透镜上的电压信号进行调控。

6.如权利要求1所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，还包括陶瓷外壳和金属支撑散热板；其中，

所述陶瓷外壳位于所述金属支撑散热板的上方，所述金属支撑散热板与所述陶瓷外壳固联，用于支撑各功能结构和散热，所述驱控预处理模块、所述面阵全色探测器和所述面阵电控双模平面液晶微透镜同轴顺序置于所述陶瓷外壳内，其中，所述面阵全色探测器位于所述驱控预处理模块的上方，所述面阵电控双模平面液晶微透镜位于所述面阵全色探测器的上方且其光入射面通过所述陶瓷外壳的面部开孔裸露出来。

7.如权利要求6所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块上设有第一端口和第一指示灯，所述面阵全色探测器上设有第二端口和第二指示灯，所述面阵电控双模平面液晶微透镜上设有第三端口和第三指示灯；

所述第一端口用于从所述驱控预处理模块向所述面阵全色探测器和所述面阵电控双模平面液晶微透镜输出驱动和调控信号，还用于接收所述面阵全色探测器向所述驱控预处理模块输出的阵列化的非饱和光电响应信号，还用于接收外部设备向探测器输入的工作指令，所述第一指示灯用于指示所述驱控预处理模块是否处在正常的工作状态；

所述第二端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述面阵全色探测器的驱动和调控信号，还用于从所述面阵全色探测器向所述驱控预处理模块输出阵列化的非饱和光电响应信号，所述第二指示灯用于指示所述面阵全色探测器是否处在正常的工作状态；

所述第三端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述面阵电控双模平面液晶微透镜的驱动和调控信号，所述第三指示灯用于指示所述面阵电控双模平面液晶微透镜是否处在正常的工作状态。

8.如权利要求7所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块上设有第四端口和第四指示灯，所述第四端口用于将所述目标图像数据从所述驱控预处理模块输出，所述第四指示灯用于指示所述驱控预处理模块是否处在正常的图像数据输出状态。

9.如权利要求8所述的宽照度全色成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块上设有第五端口和第五指示灯，所述第五端口用于接入电源线以连接外部电源，所述第五指示灯用于指示电源是否接通。