[实用新型]一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置有效
申请号: | 201320594415.7 | 申请日: | 2013-09-25 |
公开(公告)号: | CN203465355U | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 吴旺南;曹义 | 申请(专利权)人: | 长沙新图仪器有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;H01P7/06;H01P3/127 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明 |
地址: | 410205 湖南省长沙市高新开发*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 材料 介电常数 测试 谐振腔 装置 | ||
1.一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于,包括:
氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的谐振腔(1),所述谐振腔(1)的腔筒(6)开口处设置有氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的活塞(3),在所述谐振腔(1)的侧壁开设有耦合孔(4),氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的波导管(2)对应所述耦合孔(4)与所述谐振腔(1)连接;在所述谐振腔(1)的腔筒(6)内壁、所述波导管(2)的内壁及所述活塞(3)的表面均覆盖有导电金属层。
2.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:
所述谐振腔(1)为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。
3.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:
所述活塞(3)为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。
4.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:
所述波导管(2)为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。
5.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:
所述谐振腔(1)的腔筒(6)内壁、所述波导管(2)的内壁及所述活塞(3)表面的导电金属层为铂、铱或铂铑合金的导电金属层。
6.根据权利要求1或5所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:
所述导电金属层的厚度大于1μm,表面电阻小于0.1欧姆。
7.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:
所述谐振腔(1)上设置有螺纹孔(5),所述波导管(2)采用氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的螺钉与所述谐振腔(1)连接。
8.根据权利要求7所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:
所述螺钉为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。
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