[实用新型]一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置有效

专利信息
申请号: 201320594415.7 申请日: 2013-09-25
公开(公告)号: CN203465355U 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 吴旺南;曹义 申请(专利权)人: 长沙新图仪器有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;H01P7/06;H01P3/127
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明
地址: 410205 湖南省长沙市高新开发*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 材料 介电常数 测试 谐振腔 装置
【权利要求书】:

1.一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于,包括:

氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的谐振腔(1),所述谐振腔(1)的腔筒(6)开口处设置有氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的活塞(3),在所述谐振腔(1)的侧壁开设有耦合孔(4),氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的波导管(2)对应所述耦合孔(4)与所述谐振腔(1)连接;在所述谐振腔(1)的腔筒(6)内壁、所述波导管(2)的内壁及所述活塞(3)的表面均覆盖有导电金属层。

2.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:

所述谐振腔(1)为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。

3.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:

所述活塞(3)为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。

4.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:

所述波导管(2)为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。

5.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:

所述谐振腔(1)的腔筒(6)内壁、所述波导管(2)的内壁及所述活塞(3)表面的导电金属层为铂、铱或铂铑合金的导电金属层。

6.根据权利要求1或5所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:

所述导电金属层的厚度大于1μm,表面电阻小于0.1欧姆。

7.根据权利要求1所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:

所述谐振腔(1)上设置有螺纹孔(5),所述波导管(2)采用氧化物陶瓷或氮化物陶瓷材料制成的螺钉与所述谐振腔(1)连接。

8.根据权利要求7所述的一种用于材料介电常数测试的谐振腔测试装置,其特征在于:

所述螺钉为氧化铝、氧化锆、二氧化硅、莫来石或氮化硅陶瓷材料制成。

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