[实用新型]量测治具

权利要求书

1.一种量测治具，用以量测计算一待测物体的热阻所需的参数，其特征在于，所述量测治具包含：

一加热器模组，与所述待测物体以一接触面互相接触，并产生一热源以对所述待测物体进行加热，所述加热器模组侦测并输出所述接触面的温度的值；

一调压器，分别耦接一交流电压源以及所述加热器模组，所述调压器接收并调节一交流电压后，提供具有交流电态样的一加热电源予所述加热器模组；以及

一控制器，分别耦接所述加热器模组以及所述调压器，并控制所述调压器以进行调节所述交流电压，所述控制器并且从所述加热器模组接收所述接触面的温度的值。

2.根据权利要求1所述的量测治具，其特征在于，其中更包含一功率侦测器，分别耦接于所述交流电压源、所述调压器以及所述控制器，所述功率侦测器用以即时地侦测输入所述调压器的电压大小以及电流大小，并将侦测结果输出至所述控制器。

3.根据权利要求1或2所述的量测治具，其特征在于，其中所述加热器模组更包含一热电偶，用以侦测所述接触面的温度并输出电性的所述接触面的温度的值。

4.根据权利要求1或2所述的量测治具，其特征在于，其中所述调压器更包含一开关，且所述开关的通道耦接于所述交流电压源以及所述加热器模组之间，且所述开关的控制端耦接所述控制器，以控制所述开关的通道的导通或截止。

5.根据权利要求1或2所述的量测治具，其特征在于，其中更包括一温度感测器，侦测一环境温度，并将所述环境温度的值输出至所述控制器。

6.根据权利要求1或2所述的量测治具，其特征在于，其中所述控制器为以半导体制程形成的具有积体电路态样的微控制器。