[实用新型]一种光学测量设备有效

专利信息
申请号: 201320642304.9 申请日: 2013-10-17
公开(公告)号: CN203518947U 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 吴顺柏;王红波;刘朋飞;辛亚康;仝敬烁;尹建刚;高云峰 申请(专利权)人: 深圳市大族激光科技股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/14
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 测量 设备
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种测量待测件断差值技术领域,特别涉及一种光学测量设备。

背景技术

电子产品及配件、精密机械零件、玻璃、液晶屏等涉及到的电子行业、玻璃加工行业、机械加工制造业、精密仪器量具行业,在生产过程中需要对工件进行高度差、缝宽检测。

现有技术的基本采用人工检测方式,先用规尺量,然后肉眼观察,也有少部分采用OMM、OEM专用测量仪器,但都存在效率低、精确度低等问题,导致检测结果的数据误差大,无法得到产品的准确测量值,现有的检测方式对操作人员专业技能的要求也很高,若操作人员专业技能差,还会存在人为因素造成的误差比较大的问题,甚至对产品造成刮伤、变形、扭曲导致产品报废。有些体积大且重的产品或工件无法采用人工测量。

实用新型内容

针对现有技术不足,本实用新型提出一种光学测量设备,利用激光测量装置自动检测待测件,且不需接触待测件,旨在解决现有的人工检测方式存在效率低、精确度低以及对操作人员专业技能的要求高的问题。

本实用新型提出的技术方案是:

一种光学测量设备,包括机架,所述机架中设有工控系统,其上端设有工作台,所述工作台上设有:

固定装置,用于固定待测件;

影像装置,用于检测所述待测件在所述工作台上位置并将该位置信息反馈给所述工控系统;

激光测量装置,用于测量所述待测件信息并将该测量信息反馈给所述工控系统;

第一驱动装置,用于驱使所述影像装置以及所述激光测量装置在所述工作台上移动;

所述影像装置、所述激光测量装置以及所述第一驱动装置与所述工控系统电信号连接。

进一步地,所述第一驱动装置为XYZ三轴运动平台,所述XYZ三轴运动平台包括X轴平台、Y轴平台以及Z轴平台,所述X轴平台固定于所述工作台上,所述Y轴平台滑设于所述X轴平台上以及所述Z轴平台滑设于所述Y轴平台上,所述影像装置及所述激光测量装置滑设于所述Z轴平台侧边上。

进一步地,所述影像装置及所述激光测量装置与所述Z轴平台之间设有旋转调节装置,所述旋转调节装置包括连接板以及旋转调节器,所述连接板一侧滑动连接于所述Z轴平台上,其另一侧连接有所述旋转调节器,所述旋转调节器上连接有旋转板,所述影像装置及所述激光测量装置固定于所述旋转板上。

进一步地,所述旋转板下端朝外折弯形成折弯部,所述影像装置固定于所述折弯部上。

进一步地,所述影像装置及所述激光测量装置位于所述X轴平台上方且置于所述Y轴平台一侧。

进一步地,所述影像装置包括CCD相机、镜头,所述镜头设于所述CCD相机前端,所述镜头朝所述固定装置方向布置。

进一步地,所述激光测量装置包括激光测距仪,所述激光测距仪前端具有发射光束至待测件上的激光发射器。

进一步地,所述固定装置包括两相间布置的支撑板以及放料板,所述放料板设于两所述支撑板上端面,所述放料板上设有夹紧装置,所述夹紧装置包括定位柱,移动柱以及第二驱动装置,所述定位柱固定于所述放料板上端面,所述第二驱动装置驱使所述移动柱朝所述定位柱方向前后移动,所述定位柱与所述移动柱围成一用于安装所述待测件的安装区。

进一步地,所述第二驱动装置设于所述放料板下端面,其包括气缸、导轨以及在所述导轨上滑动的移动架,所述气缸具有输出轴,所述气缸的输出轴与所述移动架连接,所述移动柱设于所述移动架上,所述放料板中设有条形孔,所述移动柱穿过所述条形孔且在所述条形孔内前后移动,其上端伸出所述条形孔外。

进一步地,所述第二驱动装置包括一拉杆,所述移动架上设有朝下折弯的折弯件,所述折弯件设有通孔,所述拉杆穿过所述通孔,所述拉杆一端与所述气缸的输出轴连接,另一端设有杆帽,所述杆帽与所述折弯件一侧之间套设有压缩弹簧,所述拉杆的杆体上设有限位块,所述限位块位于所述折弯件另一侧。

根据上述的技术方案,本实用新型有益效果:影像装置检测待测件并确定待测件的位置,将待测件的位置信息发送给工控系统。根据待测件的位置信息,工控系统控制激光测量装置对待测件测量,影像装置和激光测量装置的移动通过第一驱动装置完成,激光测量装置将对待测件的信息发送给工控系统。根据待测件的测量信息,工控系统对其分析,并得出待测件的断差值,特别是待测件圆弧面的断差值,从而光学测量设备完成对待测件的自动化测量。激光测量装置利用激光束对待测件测量,不需接触待测件,避免了因测量时接触待测件而损坏待测件。

附图说明

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