[实用新型]一种用于测量贴片晶体电参数的治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及到治具领域，是一种用于测量贴片晶体电参数的治具。

背景技术

在贴片晶体生产领域，生产过程需要对封装完的产品进行抽查测试电参数，目前市场上没有一种测试夹具适用于这种微小贴片晶体。

发明内容

本实用新型的目的是要提供一种用于测量贴片晶体电参数的治具。

本实用新型的技术方案是：一种用于测量贴片晶体电参数的治具，其特征是在测试治具底座上装有限位块；测试手柄的孔内上有导向轴，导向轴下有测试压紧弹簧，测试手柄的底座卡装在导向座上，测试手柄的下端有测试针。

由于采用了上述技术方案，测量贴片晶体电参数方法简单，节约了人力，提高了生产效率，降低了生产成本。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

在图中：1、测试治具底座；2、限位块；3、测试手柄；4、导向座；5、测试压紧弹簧；6、导向轴；7、测试针。 

具体实施方式

下面结合实施例对本实用新型作进一步的说明。

在图1中，在测试治具底座1上装有限位块2；测试手柄3的孔内上有导向轴6，导向轴6下有测试压紧弹簧5，测试手柄3的底座卡装在导向座4上，测试手柄3的下端有测试针7。

实施例，先将测试手柄3向上提，顺时针旋转90度放至导向座4的上方，再用镊子将待测试产品测试电极朝上放入治具凹槽内，通过限位块2定位，再将测试手柄3逆时针旋转90度放至导向座4入口，由于测试压紧弹簧5的作用力，通过导向座4导入，正好将测试针7压在待测试产品黄色电极上沿，待测量完成将产品取出。