[实用新型]LED芯片有效
申请号: | 201320667514.3 | 申请日: | 2013-10-28 |
公开(公告)号: | CN203536474U | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 吕华丽 | 申请(专利权)人: | 杭州华普永明光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/64 | 分类号: | H01L33/64;H01L33/46;H01L33/62 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 311305 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | led 芯片 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种LED芯片的制作工艺,尤其涉及一种LED芯片。
背景技术
随着LED芯片技术与封装技术的发展,越来越多的LED产品应用于照明领域,尤其是大功率白光LED。由于LED具有高光效、长寿命、节能环保、合适调光控制、不含汞等污染物质的特点,成为继白炽灯、荧光灯等传统光源之后的新一代照明光源。
目前,大部分LED芯片是采用正装结构,即LED的半导体层以外延的方式沉积在非导电的蓝宝石基底上,因此具有导热不良等缺点。为此,申请号为200910132057.6的专利,公布了一种LED芯片结构的制作工艺,所述方法包括:
在一衬底上沉积一或多层n型III族氮化物半导体层,其中所述一或多层n型III族氮化物半导体层具有一第一表面以及一第二表面;
在所述一或多层n型III族氮化物半导体层的第一表面上沉积一或多层III族氮化物活化层;
在所述一或多层III族氮化物活化层上沉积一或多层p型III族氮化物半导体层;
在所述一或多层p型III族氮化物半导体层上沉积一原位(in-situ)形成层;在所述原位形成层上沉积一或多层反射金属层。
上述专利是将p型半导体表面沉积金属层,并移除n性半导体表面的蓝宝石沉底,形成垂直结构的LED芯片,来解决了LED芯片的散热问题。
然而,此类垂直结构的LED芯片,在封装时,需要通过共晶工艺焊接到封装支架之上,该工艺复杂、难以控制,存在焊接空洞等问题,从而导致散热不佳,加工困难等问题。
实用新型内容
本实用新型的一目的在于提供一种LED芯片,以解决现有技术中散热性不佳,加工困难的技术问题。
一种LED芯片,包括:
一层或者多层n型Ⅲ族氮化物半导体层;
一层或者多层Ⅲ族氮化物活化层,设置在上述一层或者多层n型Ⅲ族氮化物半导体层的上表面;
一层或者多层p型Ⅲ族氮化物半导体层,在上述一层或者多层Ⅲ族氮化物活化层的上表面;
反向穿隧层,在上述一层或者多层p型Ⅲ族氮化物半导体层的上表面;
一层或者多层反射金属层,在上述反向穿隧层的上表面;
将上述晶元划裂设置成多个单颗LED芯片,上述LED芯片喷溅的n型电极,延伸至反射金属层;
将上述单颗LED芯片的反射金属层,键合设置在金属基板上。
较佳地,所述金属基板包含两片,一片与正极连接,一片与负级连接。
与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:
金属基板的面积远远大于外延片的面积,以便于封装焊接。现有技术的金属基板的面积与外延片的面积相同,外延片位于金属基板上方,使金属基板不具有散热的功能,增大金属基板面积后,外延片面积远远小于金属基板,金属基板大面积的裸露在外,具有良好的散热性能;同时,现有技术的芯片整体面积比较小,焊接困难,焊接过程中容易造成芯片的损坏,增大金属基板的面积后,大大改善了这一情况,使芯片的焊接简单易行。
附图说明
图1为本实用新型LED芯片示意图;
图2为本实用新型LED芯片立体示意图;
图3为本实用新型第二方案LED芯片示意图。
具体实施方式
以下结合附图,具体说明本实用新型。
实施例一
请参阅图1,在蓝宝石基底上沉积一层或者多层n型Ⅲ族氮化物半导体层105,在上述一层或者多层n型Ⅲ族氮化物半导体层上表面沉积一层或者多层Ⅲ族氮化物活化层104,在上述一层或者多层Ⅲ族氮化物活化层上表面沉积一层或者多层p型Ⅲ族氮化物半导体层103,在上述一层或者多层p型Ⅲ族氮化物半导体层上表面沉积反向穿隧层,在上述反向穿隧层上表面沉积一层或者多层反射金属层102,剥离或者移除蓝宝石衬底,在n型Ⅲ族氮化物半导体层刻蚀出n型电极106,将上述晶元划裂成多个单颗LED芯片,将上述单颗LED芯片的反射金属层,键合到金属基板101上。
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