[实用新型]一种用于电测的新型FPC

说明书

技术领域

本实用新型涉及电测FPC，尤其涉及一种用于电测的新型FPC。

背景技术

电功能测试做为TP行业一种常规检测手段，对来料的玻璃sensor电功能不良品进行拦截， 避免做无用功，同时可以实时监测工艺流程中造成的不良，进行统计分析，是衡量工艺水平高低的一个重要检测方法，是工艺改善的重要的风向标。

对于单体的TP产品，只能采用假压的测试治具进行电功能测试，但是因为假压治具是采用测试治具外贴一个电测用的FPC制备而成的，FPC是用双面胶贴上去的，且PIN很细，对位难度大，测试久了，一端固定的FPC容易发生偏移，增加了对位的难度，使得测试的错判率大大提升，导致需要多次调整假压治具，极大降低了生产的效率，改善之前每个pin的宽度为0.25mm,pin与pin之间的间距为0.25mm,间距太细，且间距太大，且采用一边定位的方式，使得电测一端时间后，若FPC发生偏移，误判率很高，对位难度加大。

实用新型内容

本实用新型所解决的技术问题在于提供一种技术方案，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种用于电测的新型FPC，包括接口，接口连接电子元件集成区，电子元件集成区连接电测pin针，电测pin针连接主板pin针，所述主板pin针设置在主板上。

作为优选，所述电测pin针上覆盖有假压压头。

作为优选，所述电子元件集成区与电测pin针之间粘贴有双面固定背胶。

作为优选，单个的电测pin针的宽为0.40mm，电测pin针之间的距离为0.10mm。

本实用新型通过两处双面固定背胶和假压压头将电子元件集成区固定，通过加宽的的电测pin针，与主板pin针连接对主板进行检测，将检测的数据输送至电子元件集成区，通过接口输出。

有益效果为：采用三角定位的方式，即使电测很久的一段时间， FPC元件区域也很难发生偏移，就算稍微发生一点偏移，由于pin加宽，也可以很容易进行对位，极大的提升了电测的速率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

具体实施方式

以下对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

一种用于电测的新型FPC，包括接口1，接口1连接电子元件集成区2，电子元件集成区2连接电测pin针5，电测pin针5连接主板pin针6，所述主板pin针6设置在主板7上。

作为优选，所述电测pin针5上覆盖有假压压头4。

作为优选，所述电子元件集成区2与电测pin针5之间粘贴有双面固定背胶3。

作为优选，单个的电测pin针5的宽为0.40mm，电测pin针5之间的距离为0.10mm。

本实用新型通过两处双面固定背胶3和假压压头4将电子元件集成区2固定，通过加宽的的电测pin针5，与主板pin针6连接对主板7进行检测，将检测的数据输送至电子元件集成区2，通过接口1输出。

    以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。