[实用新型]低温贮箱穿舱测试密封法兰有效
申请号: | 201320774852.7 | 申请日: | 2013-11-28 |
公开(公告)号: | CN203585318U | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 时亚州;徐爱杰;王金明;周改超;王海东;金立群 | 申请(专利权)人: | 上海航天精密机械研究所 |
主分类号: | F16J15/06 | 分类号: | F16J15/06;F17C1/00;G01M13/00 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 郭国中 |
地址: | 201699*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 低温 贮箱穿舱 测试 密封 法兰 | ||
1.一种低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,包括环形体、上盖板、下盖板以及传输线缆束,所述环形体的中心处设有轴向通孔,所述上盖板设置于环形体上表面的轴向通孔处,所述下盖板设置于环形体下表面的轴向通孔处,所述上盖板、下盖板以及环形体之间形成中间空心区域,所述中间空心区域填充有密封粘合剂;其中:
所述环形体整体为环形结构,环形体在接近其外径位置设有多个沿圆周均布的环形体通孔,环形体的上表面和下表面上靠近轴向通孔处均设有多个沿圆周均布的螺孔;
所述上盖板整体为圆形法兰盖,上盖板的下表面具有凸起的圆形台面I,所述圆形台面I的直径略小于所述环形体的内径,上盖板在接近其外径位置设有多个沿圆周均布的安装通孔I,所述安装通孔I的直径略大于环形体上表面螺孔的直径,所述安装通孔I的数量及分布位置与环形体上表面螺孔相适配,上盖板的中间区域分布有多排穿舱通孔I;
所述下盖板整体为圆形法兰盖,下盖板的上表面具有凸起的圆形台面II,所述圆形台面II的直径略小于所述环形体的内径,下盖板在接近其外径位置设有多个沿圆周均布的安装通孔II,所述安装通孔II的直径略大于环形体下表面螺孔的直径,所述安装通孔II的数量及分布位置与环形体下表面螺孔相适配,下盖板的中间区域分布有多排穿舱通孔II,所述穿舱通孔II的数量及分布位置与穿舱通孔I相适配;
所述传输线缆束设置于上盖板和下盖板上一组对应的穿舱通孔内。
2.根据权利要求1所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,所述环形体的轴向通孔处设有一个环形凸台,环形体上表面螺孔沿圆周均布在所述环形凸台的端面上,环形体的上表面设有一圈环形凹槽,环形体的下表面最内圈设有一个环形凹台,环形体的内壁上设有两圈沟状槽II。
3.根据权利要求2所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,所述环形凹槽的底面设有一圈沟状槽I。
4.根据权利要求2或3所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,所述环形凹槽内设有上密封圈,所述环形凹台内设有下密封圈;
上密封圈的内径略大于环形凹槽的内径,上密封圈的外径略小于环形凹槽的外径,上密封圈的厚度略大于环形凹槽的深度;和/或
下密封圈的内径略大于环形体的内径,下密封圈的外径略小于环形凹台的外径,下密封圈的厚度略大于环形凹台的深度。
5.权利要求1所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,每一个穿舱通孔I均设有一个圆锥形坡台,和/或
每一个穿舱通孔II均设有一个倒圆锥形坡台。
6.据权利要求1所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,上盖板和下盖板上每一组对应的穿舱通孔中均设有传输线缆束。
7.据权利要求1或6述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,所述传输线缆束由多根具备绝缘层的低温线缆并排组成。
8.据权利要求1所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,所述密封粘合剂包括密封粘合剂甲、密封粘合剂乙和密封粘合剂丙,三种类型的密封粘合剂甲、密封粘合剂乙和密封粘合剂丙呈上、中、下三层分布,并紧紧充满所述中间空心区域。
9.据权利要求8所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,所述密封粘合剂甲、密封粘合剂乙和密封粘合剂丙均为具备低温密封能力的粘性材料。
10.据权利要求1所述的低温贮箱穿舱测试密封法兰,其特征在于,所述环形体上表面螺孔内设有匹配的上拧紧螺栓,所述环形体下表面螺孔内设有匹配的下拧紧螺栓。
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