[实用新型]一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试验证领域，尤其涉及的是一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器。

背景技术

随着智能卡应用的普及，发卡量不断增长，对智能卡集成电路芯片的性能及可靠性要求越来越高，由此带来的开发及测试验证工作也越来越多。现有的智能卡测试读卡器是基于为智能卡提供单个固定电压，并在该固定电压下对智能卡的性能及可靠性进行测试验证。

智能卡的性能测试验证中，在进行智能卡极限电压测试验证时，现有的测试读卡器由于不能改变智能卡的供电电压值，需要外加电压转设备并需要手动调节智能卡供电电压值，降低了验证可靠性和验证效率；在测试验证智能卡固件程序可靠性时需要在固件执行过程中关断智能卡供电电源，现有的测试读卡器不能关断智能卡供电电源，无法进行该类测试验证。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决现有测试读卡器仅为智能卡提供固定电源且不能可控关断智能卡供电电源的不足，提供一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器。

本实用新型主要通过以下技术方案实现：一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器，它包括嵌入式处理器、可控电压转换模块、可控开关模块、电压反馈模块和智能卡电平转换模块。

通过嵌入式处理器控制可控电压转换模块把读卡器电源电压转换为智能卡测试验证使用的任意电压值为读卡器供电，其中可控电压转换模块包括低压差线性稳压器、数控电位器和高精度固定电阻。低压差线性稳压器的输出端与电压基准端之间连接高精度固定电阻，电压基准端和地之间连接数控电位器；通过嵌入式处理器控制数控电位器的电阻值即可实现输出电压的控制。可控电压转换模块的输出电压如下：

Vout＝Vfb(1+R1÷R2)，其中

R1......固定电阻值

R2......数控电位器

Vfb......LDO的基准电压1.182V

通过嵌入式处理器控制可控开关模块可以实现在固件执行过程中关断智能卡供电电源，其中可控开关模块包括PNP型三极管和限流电阻；PNP型三极管基极连接限流电阻一端，限流电阻另一端连接嵌入式处理器，PNP型三极管发射极连接可控电压转换模块的输出端，PNP型三极管集电极连接电压反馈模块输入端，并连接智能卡电源管脚；通过嵌入式处理器输出高低电平即可实现控制PNP型三极管的打开和关断即可实现控制智能卡供电电源的打开和关断。

电压反馈模块把智能卡供电电源电压反馈给嵌入式处理器，其中电压反馈模块包括A/D转换器，把模拟电源电压值转换为8进制数字值供嵌入式处理器处理。

智能卡电平转换模块把智能卡通信信号电平在嵌入式处理器电压域和智能卡电压域之间转换。

附图说明

图1表示本实用新型的结构原理框图

图2表示本实用新型中可控电平转换模块的一种具体实例。

图3表示本实用新型中可控开关模块的一种具体实例。

具体实施方式

下面结合实施例及附图对本实用新型做进一步的详细说明，但本实用新型的实施方式不仅局限于此。

实施例：

如图1所示，一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器，包括嵌入式处理器、可控电压转换模块、可控开关模块、电压反馈模块、智能卡电平转换模块；嵌入式处理器的数控电位器接口连接到可控电压转换模块控制端，读卡器电源连接到可控电压转换模块的输入端；可控电压转换模块的输出端连接到可控开关模块输入端，嵌入式处理器的可控开关控制接口连接到可控开关模块的控制端，可控开关模块的输出端连接电压反馈模块的输入端，并且连接智能卡电源管脚为智能卡供电；电压反馈模块的输入端连接可控开关模块的输出端，电压反馈模块的输出端连接嵌入式处理器的电压反馈接收接口。

如图2所示，一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器的可控电平转换模块，包括低压差线性稳压器、高精度电阻和数控电位器，低压差线性稳压器的输出端与电压基准端之间连接高精度固定电阻，电压基准端和地之间连接数控电位器；通过嵌入式处理器控制数控电位器的输出电阻即可实现输出电压的控制。

本实例使用的高精度电阻R1为33K欧姆，数控电位器R2的输出范围为0～100K欧姆，读卡器电源使用7.5V供电电源，根据Vout＝Vfb(1+R1÷R2)可知可控电压转换模块的输出范围为1.58V～7.5V。

如图3所示，一种可自动控制智能卡供电电压的测试读卡器的可控开关模块，包括PNP型三极管Q1、限流电阻R1；PNP型三极管Q1的发射极2管脚连接到可控电压转换模块的输出端，PNP型三极管Q1的集电极3管脚连接到智能卡电源管脚，PNP型三极管Q1的集电极连接限流电阻R1，R1的另一端连接嵌入式处理器控制端；当嵌入式处理器控制端输出高电平时，PNP型三极管关断即可控开关模块关断智能卡供电电源，当嵌入式处理器控制端输出低电平时，PNP型三极管打开，即可控开关模块打开智能卡供电电源，此时智能卡供电电压约为可控电压转换模块的输出电压值。