[实用新型]多轴电容式加速度计有效
申请号: | 201320805308.4 | 申请日: | 2013-12-06 |
公开(公告)号: | CN203630155U | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 汪建平;邓登峰 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01P15/125 | 分类号: | G01P15/125 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 310012*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 加速度计 | ||
1.一种多轴电容式加速度计,包括基底和XY轴结构层,所述XY轴结构层包括可动质量块、中心锚点、弹性结构以及多个检测电极,所述多个检测电极用于检测X方向和Y方向的加速度,所述可动质量块与所述中心锚点和弹性结构相连,其特征在于,所述多轴电容式加速度计还包括分别位于XY轴结构层两侧的两个Z轴结构层。
2.如权利要求1所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,每个所述Z轴结构层均包括可动质量块、固定锚点、弹性结构以及两个固定电极,所述两个固定电极固定于所述基底上,所述Z轴结构层的弹性结构与所述Z轴结构层的固定锚点和可动质量块相连。
3.如权利要求2所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,每个所述Z轴结构层的两个固定电极的结构相同且关于所述Z轴结构层的弹性结构对称。
4.如权利要求3所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,每个所述Z轴结构层的可动质量块的质心不在所述Z轴结构层的弹性结构上。
5.如权利要求4所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,其中一个Z轴结构层的弹性结构左侧的可动质量块的质量与另一个Z轴结构层的弹性结构左侧的可动质量块的质量相同,所述其中一个Z轴结构层的弹性结构右侧的可动质量块的质量与另一个Z轴结构层的弹性结构右侧的可动质量块的质量相同。
6.如权利要求5所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,其中一个Z轴结构层中远离中心锚点的固定电极与另一个Z轴结构层中靠近中心锚点的固定电极电学连接,所述其中一个Z轴结构层中靠近中心锚点的固定电极与另一个Z轴结构层中远离中心锚点的固定电极电学连接。
7.如权利要求2所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,所述Z轴结构层的可动质量块、固定锚点以及弹性结构是通过蚀刻和熏蒸工艺一体成形的结构,所述Z轴结构层的可动质量块、固定锚点以及弹性结构与所述XY轴结构层的可动质量块、中心锚点、弹性结构以及检测电极一同利用第二层多晶硅形成。
8.如权利要求2所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,所述多轴电容式加速度计还包括形成于所述基底上的布线,所述Z轴结构层的固定电极与所述基底上的布线利用第一层多晶硅形成。
9.如权利要求1所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,所述XY轴结构层包括八个检测电极,所述八个检测电极以所述中心锚点为中心呈辐射状分布于其四周;其中四个检测电极对称分布于中心锚点的左右两侧,用于检测X方向的加速度;另外四个检测电极对称分布于中心锚点的上下两侧,用于检测Y方向的加速度。
10.如权利要求9所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,每个所述检测电极均包括第一检测电极以及两个第二检测电极,所述第一检测电极与所述XY轴结构层的可动质量块相连,所述两个第二检测电极固定于所述基底上。
11.如权利要求1所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,所述XY轴结构层还包括固定于所述基底上的多个止动块,所述多个止动块均匀分布于所述XY轴结构层的可动质量块的周围并与所述XY轴结构层的可动质量块相连。
12.一种多轴电容式加速度计,包括基底和XY轴结构层,所述XY轴结构层包括可动质量块、中心锚点、弹性结构以及多个检测电极,所述多个检测电极用于检测X方向和Y方向的加速度,所述可动质量块与所述中心锚点和弹性结构相连,其特征在于,所述弹性结构为扇形折叠梁结构,所述多轴电容式加速度计还包括分别位于XY轴结构层两侧的两个Z轴结构层。
13.如权利要求12所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,所述多轴电容式加速度计还包括形成于所述基底上的布线,所述XY轴结构层的弹性结构与所述布线错开设置。
14.如权利要求12所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,每个所述Z轴结构层均包括可动质量块、固定锚点、弹性结构以及两个固定电极,所述两个固定电极固定于所述基底上,所述Z轴结构层的弹性结构与所述Z轴结构层的固定锚点和可动质量块相连。
15.如权利要求14所述的多轴电容式加速度计,其特征在于,每个所述Z轴结构层的两个固定电极的结构相同且关于所述Z轴结构层的弹性结构对称。
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