[实用新型]一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统

权利要求书

1.一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统，包括激光器驱动模块、温度控制模块、分布反馈半导体激光器、正向使用1*2光开关、逆向使用1*2光开关、气室、单模光纤、光电探测器、数据采集卡及计算机，其特征在于分布反馈半导体激光器的输出尾纤接正向使用1*2光开关的输入端；正向使用1*2光开关的一路输出端连接气室的一端，气室的另一端接逆向使用1*2光开关的一个输出端；正向使用1*2光开关的另一路输出端接单模光纤，单模光纤的另一端连接逆向使用1*2光开关的另一个输出端；逆向使用1*2光开关的输入端连接到光电探测器的输入端，光电探测器的输出端连接数据采集卡的输入端，数据采集卡的输出端和计算机相连接；激光器驱动模块和温度控制模块分别连接分布反馈半导体激光器；正、逆向使用1*2光开关的控制端分别与计算机相连接。

2.如权利要求1所述的一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统，其特征在于所述的分布反馈半导体激光器的具体工作波长和待测气体的吸收峰的波长相适配。

3.如权利要求1所述的一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统，其特征在于所述的光电探测器为InGaAs PIN光电二极管。

4.如权利要求1所述的一种消除光电器件内部残余待测气体影响的气体检测系统，其特征在于所述的正向使用1*2光开关与逆向使用1*2光开关均为普通机械式光开关。