[实用新型]一种基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置有效
| 申请号： | 201320814461.3 | 申请日： | 2013-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN203688501U | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 杨润光;陈亮;张淑琴;金尚忠;张林波;沈为民;何莎婕;严敏玲;苏玲爱 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90;H03B5/08;H03B5/30 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 吴秉中 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 介电常数 频率 校准 金属 含量 测定 装置 | ||
1.一种基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置，包括原振荡频率信号和校准频率信号的产生部分、高频信号放大部分、PWM调制部分、LED驱动显示部分，其特征在于：所述原振荡频率信号和校准频率信号的产生部分为灵活式LC振荡电路和有源晶振的率压特性电路；高频信号放大部分为差分高频放大电路；PWM调制部分为基于单片机的A/D转换电路；LED驱动显示部分为基于PWM占空比的显示电路。
2.如权利要求1所述的基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置，其特征在于：原振荡频率信号产生部分包括PNP型三极管Q1、移动式金属片可变电平板CX、电感L1、可变电容C1,可调电阻Rx1、Rx2，电容C2、C3以及四个电阻R1、R2、R3、R4共同组成一个灵活式振荡电路，校准频率信号的产生部分包括有源晶振CY、可调电阻RX以及电阻R201共同组成一个校准频率的产生电路。
3.如权利要求1所述的基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置，其特征在于：所述高频信号放大部分包括第一级差动放大部分和第二级高频放大部分，其中所述的第一级差动放大部分包括运算放大器U1、U2、电阻R107、R108、R109、R207、R208、R209，所述的第二级高频放大部分包括高频放大管Q2、Q3以及电阻R103、R104、R105、R106、R203、R204、R205、R206共同组成高频放大电路。
4.如权利要求1所述的基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置，其特征在于：所述的PWM调制部分为包括单片机U3的A/D的转换电路。
5.如权利要求1所述的基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置，其特征在于：所述的LED驱动显示部分包括LED灯D1、D2、电阻R5、R6、电容C4、C5共同组成驱动显示电路。
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