[实用新型]液晶显示模组的测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种液晶显示模组的测试系统。

背景技术

在液晶显示模组（liquid crystal module，LCM）中，液晶显示模组需要通过驱动芯片的驱动来显示图像。对于一款液晶显示模组，某种颜色需要多大的驱动电压以达到最好的显示效果，通常都是经过不断测试后选择并固化在驱动芯片中的。但由于液晶显示模组个体之间的差异，因此为达到最佳显示效果的驱动电压之间就存在差异，使用同一驱动参数并不能使所有的液晶显示模组都达到最好的显示效果。为此，为了消除这种差异，高端的液晶显示模组中允许客户自行定义液晶显示模组的驱动电压参数，并通过一次性可编程（One Time Programmable，OTP）工序固化在驱动芯片中，提升产品效果。

传统的OTP固化（烧录）的基本思路是，构建以ARM或者FPGA为核心的LCM测试架，由该LCM测试架生成测试数据，并写入LCM的寄存器，驱动液晶显示模组进行显示。然后通过光电测试仪器测量液晶显示模组的相关显示数据，再将该显示数据传送到计算机处理，以判断该显示数据是否符合达到最佳显示效果的要求。上述过程中需要LCM测试架不断生成测试数据，甚至可能需要遍历所有的设置值以找到最佳参数，测试效率较低。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种液晶显示模组的测试系统，其能提供快捷的测试。

一种液晶显示模组的测试系统，包括用于测量液晶显示模组的显示参数的光电测试仪，还包括：

增量型编码模块，包括增量型编码器，所述增量型编码器从给定的基础测试数据开始，以设定的增量产生新的测试数据；

测试模块，包括主控芯片、与主控芯片连接的存储单元和与主控芯片连接的液晶驱动单元；

所述主控芯片与所述增量型编码模块连接，获取所述增量型编码模块输出的测试数据并控制液晶驱动单元以该测试数据驱动液晶显示模组；

所述存储单元用于根据主控芯片的保存命令存储测试数据；

所述增量型编码模块还包括保存触发器，所述保存触发器与主控芯片连接，用于触发所述主控芯片生成所述保存命令。

在其中一个实施例中，所述增量型编码器为采用转轴控制的编码器件。

在其中一个实施例中，所述增量型编码模块还包括与所述增量型编码器连接的鉴相器和频率计数器。

在其中一个实施例中，所述主控芯片还用于在保存触发器触发保存命令时，将测试数据烧录到液晶显示模组中。

在其中一个实施例中，所述主控芯片还用于根据存储单元中保存的历史测试数据计算平均值得到所述增量型编码器的基础测试数据。

在其中一个实施例中，所述主控芯片为ARM芯片。

在其中一个实施例中，所述存储单元为闪存模块。

在其中一个实施例中，所述液晶驱动单元包括背光驱动电路、液晶显示信号转接电路以及液晶显示模组的供电电路。

在其中一个实施例中，所述保存触发器为按键电路。

在其中一个实施例中，所述按键电路输出高电位触发主控芯片的保存命令。

上述测试系统，通过增量型编码模块自动提供测试数据，并通过保存触发器快速保存符合条件的测试数据，测试效率较高。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的液晶显示模组的测试系统；

图2为图1中的测试模块的结构示意图；

图3为图1中的增量型编码模块的结构示意图；

图4为本实用新型一实施例的液晶显示模组的测试流程图。

具体实施方式

如图1所示，为本实用新型一实施例的液晶显示模组的测试系统。该测试系统10通过多组测试数据对液晶显示模组20进行测试，以获取能够使液晶显示模组20取得最佳显示效果的测试数据。以下所说的测试数据均指驱动液晶显示模组的驱动电压数据。

该测试系统10包括测试模块110、增量型编码模块120和光电测试仪130。其中测试模块110根据增量型编码模块120提供的测试数据驱动液晶显示模组20进行显示，光电测试仪130则采集液晶显示模组20的显示图像并生成相应的显示参数。测试人员90通过查看光电测试仪130输出的显示参数即可判断当前的测试参数是否符合要求。

上述测试系统10可通过增量型编码模块120自动产生测试数据，并通过保存触发器快速保存符合条件的测试数据，测试效率较高。测试系统10结构简单、操作简单，无需连接计算机，方便移动重组。因此OTP快速高效，能适应大批量快速生产需求。