[实用新型]一种信号端子复用装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及信号测试技术领域，特别是指一种信号端子复用装置。

背景技术

电力自动化二次装置生产过程中会涉及到大量的DSP（Digital Signal Processing，数字信号处理）、CPU（Central Processing Unit，中央处理器）插件，一方面是由于各网局、地区对继电保护的要求不尽相同，导致DSP、CPU插件数目很多；另一方面是由于不同保护、测控装置的需求，导致DSP、CPU插件种类繁多。

不同的DSP、CPU插件端子定义差异较大，很难实现统一，相同位置的端子的信号类型可能不同：可能是数字信号，也可能是模拟信号；可能是输入信号，也可能是输出信号。传统的DSP、CPU插件测试方法是：针对不同信号类型的DSP、CPU插件端子，设计一个单独的测试仪，配置独立的测试电缆，进行测试；并且在测试过程中还需要手动调节相应的测试仪器，输出或测量模拟电压值。传统的DSP、CPU插件端子测试方法效率低下、通用性低、资源浪费严重。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的主要目的在于提供一种信号端子复用装置，以解决传统DSP、CPU插件端子测试方法效率低下、通用性低、资源浪费严重的问题。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

本实用新型提供了一种信号端子复用装置，包括：模拟开关单元、信号采集与输出单元和控制单元；所述模拟开关单元与所述信号采集与输出单元相连，所述信号采集与输出单元与所述控制单元相连，所述模拟开关单元与所述控制单元相连。

优选地，所述模拟开关单元包括第一模拟开关和第二模拟开关；所述信号采集与输出单元包括运算放大器、ADC和DAC；

所述第一模拟开关的一端与信号端子相连、另一端与所述运算放大器相连，所述运算放大器与所述ADC相连；

所述第二模拟开关的一端与信号端子相连、另一端与所述DAC相连；

所述ADC、DAC分别通过SPI总线与所述控制单元相连。

优选地，所述第二模拟开关导通时，所述DAC与所述运算放大器相连。

优选地，所述控制单元包括MCU和控制器，所述MCU通过RS485总线与所述控制器相连，所述第一模拟开关和第二模拟开关分别与所述MCU的相应IO管脚相连，所述ADC、DAC分别通过SPI总线与所述MCU相连。

优选地，所述模拟开关单元包括第三模拟开关，所述第三模拟开关分别与第一信号端子和第二信号端子相连。

优选地，所述模拟开关单元包括第四模拟开关、第五模拟开关、第六模拟开关和匹配电阻；

所述第四模拟开关的一端与第一信号端子相连、另一端与第一通讯端子相连，所述第五模拟开关的一端与第二信号端子相连、另一端与第二通讯端子相连；所述第六模拟开关的一端与匹配电阻的一端相连、所述第六模拟开关的另一端和匹配电阻的另一端分别与第一通讯端子、第二通讯端子相连。

优选地，所述控制单元包括MCU和控制器，所述MCU通过RS485总线与所述控制器相连，所述第三模拟开关、第四模拟开关、第五模拟开关和第六模拟开关分别与所述MCU的相应IO管脚相连。

本实用新型实施例提供的一种信号端子复用装置，无需随着信号类型的改变而更换测试仪、测试线缆，即可实现对相同位置的信号端子的当前信号进行采集、测试，如此测试效率高、通用性高同时也避免了资源浪费严重的问题。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的信号端子复用装置示意图一；

图2为本实用新型实施例提供的信号端子复用装置示意图二；

图3为本实用新型实施例提供的信号端子复用装置示意图三；

图4为本实用新型实施例提供的信号端子复用装置示意图四。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型的技术方案进一步详细阐述。

传统的信号端子测试方式需要根据信号类型的不同，对于相同位置的信号端子更换不同的测试仪、测试线缆进行采集、测试，这种方式效率低下、通用性低、资源浪费严重，为了解决该技术问题，本实用新型实施例提供了一种信号端子复用装置，如图1所示，当相同位置的信号端子的信号类型发生变化时，只需要将该装置切换到相应的测试电路即可实现对相同位置的信号端子的当前信号进行采集、测试，无需随着信号类型的改变而更换测试仪、测试线缆。

如图1所示，本实用新型实施例提供的信号端子复用装置，包括：模拟开关单元10、信号采集与输出单元20和控制单元30。