[实用新型]一种硬件测试平台有效
申请号: | 201320835026.9 | 申请日: | 2013-12-16 |
公开(公告)号: | CN203615953U | 公开(公告)日: | 2014-05-28 |
发明(设计)人: | 杨国勋;方毅;吉艳青 | 申请(专利权)人: | 上海华兴数字科技有限公司 |
主分类号: | G01D11/00 | 分类号: | G01D11/00 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
地址: | 201299 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硬件 测试 平台 | ||
1.一种硬件测试平台,其特征在于,包括测试台面、显示屏安装窗和测试系统储藏室,所述测试系统储藏室位于所述测试台面下方且具有两扇设在所述测试系统储藏室背面的开合门,所述显示屏安装窗竖直搭在所述测试台面上的靠背处,所述显示屏安装窗内装设有显示屏;所述测试系统储藏室内布设有器件测试线路,所述测试台面上设有若干孔,用于连通所述测试系统储藏室内部空间与所述测试台面上方空间。
2.根据权利要求1所述硬件测试平台,其特征在于,所述测试台面的前侧设有向内倾侧的斜面。
3.根据权利要求1所述硬件测试平台,其特征在于,所述测试台面上的孔分别为三个矩形孔。
4.根据权利要求1所述硬件测试平台,其特征在于,所述显示屏安装窗的背面下方设有散热窗,所述散热窗后方装有散热风扇。
5.根据权利要求1所述硬件测试平台,其特征在于,所述测试台面上还设有待测控制器复位按钮、待测显示屏复位按钮和直流电源开关按钮。
6.根据权利要求1所述硬件测试平台,其特征在于,所述测试系统储藏室内部为层格结构。
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