[实用新型]恒温槽性能测试系统有效
申请号: | 201320848946.4 | 申请日: | 2013-12-20 |
公开(公告)号: | CN203893955U | 公开(公告)日: | 2014-10-22 |
发明(设计)人: | 龙阳;林春江;钟毅 | 申请(专利权)人: | 广州广电计量检测股份有限公司 |
主分类号: | G01K3/02 | 分类号: | G01K3/02;G01K3/08;G01K3/14 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 王茹;陶品德 |
地址: | 510656 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 恒温槽 性能 测试 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域,特别是涉及一种恒温槽性能测试系统。
背景技术
恒温槽是一种利用液体作为恒温介质的恒温设备,适用于需要维持低温、常温条件下工作的化学、生物、物理实验室等,是医药卫生、化学工业、食品工业、冶金工业、大专院校、科研、遗传工程、高分子工程等实验室的必备设备。可以结合旋转蒸发器,真空冷冻干燥箱、循环水式真空泵,磁力搅拌器等仪器,进行多功能化学反应作业及药物储存等。
对于恒温槽的性能测试,利用温度测量设备作为标准设备,按照JJF1030-2010《恒温槽技术性能测试规范》规定的进行测试,测试主要包括如下两个方面:
(1)温度波动度:指恒温槽的工作区域在一定时间间隔内,温度变化的范围。
(2)温度均匀性:指恒温槽的工作区域内最高温度与最低温度的差。
目前,按照《JJF 1030-2010恒温槽技术性能测试规范》要求对恒温槽性能参数测试的数据繁多,数据计算繁杂,工作量非常大。在现有测试过程中,根据温度表显示温度值,通过人工方式逐一记录和计算出温度波动度、均匀性,得出恒温槽性能的判断结果。对于逐一记录、处理数据和结果处理过程,对恒温槽性能测试以及后期数据的处理会花费很大的时间和精力,测试效率低,而且,人为参与也会进一步提高错误率。
实用新型内容
基于此,有必要针对现有的恒温槽性能测试技术测试效率低的问题,提供一种效率更高、准确性更高的恒温槽性能测试系统。
一种恒温槽性能测试系统,包括:固定温度检测装置、移动温度检测装置、温度测试设备,以及数据处理装置;
所述固定温度检测装置、移动温度检测装置分别连接温度测试设备的输入端,温度测试设备的输出端连接数据处理装置;
所述固定温度检测装置放置于待测的恒温槽的工作区域一设定位置的测试点处,所述移动温度检测装置在测试点A、B、C、D、R、F、G、H移动放置;
所述固定温度检测装置、移动温度检测装置分别感应测试点的温度并将其转换成相应的电信号发送至温度测试设备,所述温度测试设备将所述电信号转换成温度数据发送至数据处理装置,所述数据处理装置对温度数据进行运算处理。
上述恒温槽性能测试系统,以多通道的温度测量设备作为标准设备对恒温槽性能进行测试,通过数据处理装置实现温度数据的自动化采集,对温度数据进行运算处理,计算被测恒温槽的性能参数,实现了温度数据的自动化采集和处理,提高了测试效率,实现了恒温槽性能测试的自动化,提高了测试的正确率。
附图说明
图1为本实用新型的恒温槽测试系统结构示意图;
图2为数据处理装置的结构示意图;
图3为移动温度检测装置的结构示意图;
图4、5为恒温槽性能测试系统的测试界面示意图;
图6、7为测试生成的Excel电子表格示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的恒温槽性能测试系统的具体实施方式作详细描述。
图2为一个实施例的恒温槽性能测试系统结构示意图,包括:固定温度检测装置10、移动温度检测装置20、温度测试设备30,以及数据处理装置40。
所述固定温度检测装置10、移动温度检测装置20分别连接温度测试设备30的输入端,温度测试设备30的输出端连接数据处理装置40。
所述固定温度检测装置10放置于待测的恒温槽的工作区域一设定位置的测试点处,所述移动温度检测装置20在测试点A、B、C、D、R、F、G、H移动放置。
所述固定温度检测装置10、移动温度检测装置20分别感应测试点的温度并将其转换成相应的电信号发送至温度测试设备30,所述温度测试设备30将所述电信号转换成温度数据发送至数据处理装置40,所述数据处理装置40对温度数据进行运算处理。
上述恒温槽性能测试系统,以多通道的温度测量设备作为标准设备对恒温槽性能进行测试,通过数据处理装置实现温度数据的自动化采集,对温度数据进行运算处理,计算被测恒温槽的性能参数,实现了温度数据的自动化采集和处理,提高了测试效率,实现了恒温槽性能测试的自动化,提高了测试的正确率。
在一个实施例中,所述温度测试设备30为包括至少两个通道的温度测试设备。
在一个实施例中,参考图2所示,图2为数据处理装置40的结构示意图,包括:处理器401、以及与所述处理器401连接的输入设备402和显示设备403,其中,处理器401连接所述温度测试设备30。
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