[实用新型]光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置及其控制系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及显微物镜光学检测技术领域，尤其是涉及一种光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置及电动狭缝装置控制系统。

背景技术

传统光学狭缝有一定的局限性：常用传统光学狭缝通常能调节缝宽，并且为手动调节，当光谱仪或光学系统对光学狭缝提出电动控制或者狭缝位置控制要求，或者单独调节某一缝片的要求时，传动手动调节狭缝无法满足要求。因此，光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置完全可以弥补上述不足，可以实现电动调节狭缝宽度-即光谱带宽以及狭缝位置-即光谱中心波长，同时相比传统光学狭缝，本狭缝装置可以单独调节左、右两个缝片的位置。

发明专利申请CN102141507B中提出了一种连续可变狭缝机构安装调试方法，通过支架、安装在支架上的相互平行且相对于支架可滑动的第一滑杆和第二滑杆，以及摆块、偏心轮、消缝弹簧、步进电机和第一左缝片、第一右缝片、第二左缝片、第二右缝片等机构消除缝片装配平行度误差。但是上述发明中狭缝机构仅能调节缝宽，而无法对狭缝位置进行调节。

实用新型内容

本实用新型的目的是：提供一种光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置，该光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置能够实现在狭缝缝宽和狭缝位置的电动调节，从而实现电动调节光谱仪中心波长、光谱带宽。

本实用新型的技术方案是：一种光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置，包括左直线步进电机、右直线步进电机、左传动螺母、右传动螺母、左滑块、右滑块、左缝片、右缝片、导轨、左起始光耦、右起始光耦、防撞光耦、防撞挡片、左挡片、右挡片、电控单元及基座；

所述左直线步进电机、右直线步进电机和导轨固定安装于所述基座上；

所述左传动螺母及所述左挡片固定连接于所述左滑块的一侧，所述左缝片固定连接于所述左滑块的另一侧，所述左直线步进电机驱动所述左传动螺母作直线运动，所述左传动螺母带动所述左滑块在所述导轨上作直线运动，所述左缝片、左滑块、左传动螺母及左挡片构成第一刚体，所述左直线步进电机驱动所述第一刚体在所述导轨上作直线运动；

所述右传动螺母及所述右挡片固定连接于所述右滑块的一侧，所述右缝片固定连接于所述右滑块的另一侧，所述右直线步进电机驱动所述右传动螺母作直线运动，所述右传动螺母带动所述右滑块在所述导轨上作直线运动，所述右缝片、右滑块、右传动螺母及右挡片构成第二刚体，所述右直线步进电机驱动所述第二刚体在所述导轨上作直线运动；

若所述第一刚体处于左起始位置时，所述左挡片触发所述左起始光耦，所述电控单元控制所述左直线步进电机停止运转；若所述第二刚体处于右起始位置时，所述右挡片触发所述右起始光耦，所述电控单元将控制所述右直线步进电机停止运转；若所述左缝片和所述右缝片之间的缝宽处于设定的最小缝宽时，所述防撞挡片触发所述防撞光耦，所述电控单元控制所述左直线步进电机和所述右直线步进电机停止运转；

所述电控单元还用于根据上位机系统发出的狭缝位置、缝宽控制指令检测所述左起始光耦和所述右起始光耦状态的触发状态，当所述左起始光耦和所述右起始光耦处于被触发状态时，所述电控单元控制所述左直线步进电机和所述右直线步进电机分别驱动所述左传动螺母和所述右传动螺母运动，并带动所述左缝片和所述右缝片在所述导轨上作直线运动，直至所述左缝片和所述右缝片到达预定位置；当所述左起始光耦和所述右起始光耦处于未被触发状态时，所述电控单元控制所述左直线步进电机和所述右直线步进电机分别驱动所述左传动螺母和所述右传动螺母运动，并带动所述左缝片和右缝片在导轨上作直线运动，直至所述左缝片和所述右缝片分别到达左起始位置和右起始位置，所述电控单元再控制所述左直线步进电机和所述右直线步进电机驱动所述左缝片和所述右缝片到达预定位置。

另外，本实用新型还提供了一种电动狭缝装置控制系统，包括所述电动狭缝装置及所述上位机系统，所述电动狭缝装置电性连接于所述上位机系统，所述上位机系统用于向所述电控单元发出狭缝位置、缝宽控制指令，所述上位机系统还用于根据所述狭缝位置、缝宽输入值计算得出所述左缝片和所述右缝片位置。

本实用新型的优点是：

1.本实用新型提供的光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置，能够对左缝片和右缝片实现单独控制，从而在调节缝宽同时还可以实现狭缝位置调节，方便实现调节光谱仪中心波长、光谱带宽。

2.本实用新型提供的光谱仪用缝宽、位置可调的电动狭缝装置，其中，左缝片和右缝片均由电控单元通过控制直线步进电机驱动，实现狭缝缝宽、狭缝位置的电动调节。