[实用新型]一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈有效

专利信息
申请号: 201320861368.8 申请日: 2013-12-24
公开(公告)号: CN203658560U 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 宋强;胡健;曾华;黄道平 申请(专利权)人: 宜宾金川电子有限责任公司;宜宾金原复合材料有限公司
主分类号: G01R33/07 分类号: G01R33/07
代理公司: 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 徐丰;杨保刚
地址: 644005*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 扁平 永磁体 单面 磁通量 感应 线圈
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种感应线圈,主要是一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈。

背景技术

测试磁通量的感应线圈在磁性材料行业中的应用十分广泛。目前永磁体磁通的测量通常采用亥姆霍兹线圈、单线圈和平面线圈,亥姆霍兹线圈能测试整个磁体磁通但不能测试扁平磁体单面的磁通量。单线圈是最经典的磁场测量线圈,被人们用于测试包围空间内的磁场,通常设计用于测试整个磁体的磁通量。平面线圈是由单线圈转化而成,专门用于测试磁瓦磁片工作面的磁通量。

随着磁性材料不断扩展和应用的深入,许多弱磁通量的磁体应用在了某些特殊行业中,由于目前大多弱磁通量(nWb级)的磁体都是采用磁粉和树脂复合粘结而成,磁粉在树脂中的分散程度直接影响磁体磁性能的均匀性,特别是扁平磁体两面磁通量的一致性。某些特殊行业要求该类扁平磁体两面的磁通量差异低于1.5%。

目前市面上所销售的平面线圈工装能测试高磁通量的磁体,针对弱磁通量的磁体该类工装因精度不够不能测试,更无法测试扁平磁体的单面磁通量。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈,可以测量扁平永磁体单面磁通量,并通过正反两次测量扁平永磁体单面磁通量来检测扁平永磁体两面磁通量的一致性,以弥补现有技术的不足。

本实用新型的目的是这样实现的:一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈,包括非导磁材料制成的绕线盘,绕线盘中轴为空腔结构,绕线盘上绕有线圈,线圈紧密缠绕在绕线盘上,在绕线盘中轴空腔结构内壁上有非导磁材料制成的测试槽,测试槽紧贴在绕线盘内壁与绕线盘轴向方向平行。

通过实施本实用新型,可以测量扁平永磁体单面磁通量,并通过正反两次测量扁平永磁体单面磁通量来检测扁平永磁体两面磁通量的一致性;本实用新型结构简单,使用方便。

以下结合附图通过具体实施方式对本实用新型做进一步描述。

附图说明

图1是本实用新型的主视图;

图2是本实用新型的俯视图。

图中1是绕线盘,2是测试槽,3是线圈。

具体实施方式

实施例1

一种用于测量扁平永磁体单面磁通量的感应线圈,包括非导磁材料制成的绕线盘1,绕线盘1中轴为空腔结构,绕线盘1上绕有线圈3,线圈3紧密缠绕在绕线盘1上,在绕线盘1中轴空腔结构内壁上有非导磁材料制成的测试槽2,测试槽2紧贴在绕线盘1内壁与绕线盘1轴向方向平行。

使用时,将本实用新型线圈3的引出线与磁通计连接,将待测的扁平永磁体置于测试槽2内,由于扁平永磁体只有贴近绕线盘1内壁一面的磁力线会切割线圈3,影响电感数据,扁平永磁体另一面的磁力线在绕线盘1中轴空腔结构形成闭环,不切割线圈3,对电感数据不构成影响,读取磁通计数据,通过与线圈3的匝数换算可知扁平永磁体贴近绕线盘1内壁一面的磁通量;完成扁平永磁体一面磁通量测试后,将扁平永磁体翻面进行再次测试,即可获得扁平永磁体另一面的磁通量数据,进行扁平永磁体两面磁通量数据对比。

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