[实用新型]面板卡扣校验工装

说明书

技术领域

本实用新型涉及工装，特别是涉及一种可以快速校验面板卡扣高度的面板卡扣校验工装。

背景技术

面板是通过卡扣和卡槽相配合将面板固定住的，卡槽和卡扣相互配合且相互限制，其中卡扣的高度是衡量卡扣是否符合标准的重要参数。

现有的面板卡扣高度测量主要采用游标卡尺检测，主要的缺点如下：

①每次生产时均需要使用游标卡尺测量卡扣的高度，无法快速判断出卡扣高度是否符合图纸要求，效率低。

②图纸上卡扣的标注包括料厚，而实际测量采用游标卡尺测量高度加上面板料厚才能得出卡扣的高度，由于面板的料厚有一定的公差浮动，增加了测量误差，导致测量结果误差增大。

③面板卡扣高度测量过程中，游标卡尺读数刻度会随着人用力的程度不同而出现误差，客观上也造成读数误差。

④针对同一处剪切边测量，均需要抽测几个点，采用普通游标卡尺测量，效率低。

实用新型内容

基于此，有必要针对检验面板卡扣高度效率低且误差大的问题，提供一种可以快速校验面板卡扣高度的面板卡扣校验工装。

本实用新型通过下述方案实现：

一种面板卡扣校验工装，用于校验至少一种型号的面板卡扣，包括本体；所述本体上设有至少一第一卡槽，所述第一卡槽的长度L满足第一关系式：L=M+N+P；

其中，M为所述面板卡扣的厚度，N为所述面板卡扣的高度，P为所述面板卡扣高度的公差的绝对值。

作为其中一种实施例，所述本体还设有至少一第二卡槽，所述第二卡槽的长度为Q；

所述第二卡槽的长度Q满足第二关系式：Q=M+N-P。

作为其中一种实施例，所述本体为长方体。

作为其中一种实施例，所述第一卡槽和所述第二卡槽数量相同，成对设置在本体上。

作为其中一种实施例，所述第一卡槽、第二卡槽均为两个或者两个以上；

所述第一卡槽、第二卡槽旁均设有标志，每个标志代表一种卡槽，用于区分对应的卡槽所对应的面板卡扣的型号。

本实用新型的面板卡扣校验工装设有卡槽，可以通过将面板卡扣扣合入卡槽，判断面板卡扣是否符合要求，相对于使用量具测量更加精准且效率高。

附图说明

图1为本实用新型的面板卡扣校验工装的一种实施例的结构示意图；

图2为图1中I部的局部放大图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，并结合附图，对本实用新型的面板卡扣校验工装进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1-2所示，一种面板卡扣校验工装，用于校验至少一种型号的面板卡扣600，包括本体500，本体500上设有至少一第一卡槽100，第一卡槽100的长度L满足第一关系式：L=M+N+P；

其中，M是面板卡扣600的厚度，N是面板卡扣600的高度，P是面板卡扣600高度的公差的绝对值。

校验工装时，将第一卡槽100扣合入面板卡扣600时，面板卡扣600的折边（即面板卡扣600的高度N）和面板卡扣600的厚度M进入了第一卡槽100内，因此第一卡槽100的长度是：L=M+N+P。

在检验面板卡扣600的高度是否符合要求时，只需将第一卡槽100扣合在面板卡扣600上，如果面板卡扣600能进入第一卡槽100就说明面板卡扣600的高度不会高于检验标准，也就满足了面板卡扣600的一个校验标准，相较于使用游标卡尺测量的方法不会因操作情况的改变导致检验结果的改变，并且操作简单，节省了时间。

作为其中一种实施例，本实用新型的面板卡扣校验工装的本体500上还设置有至少一第二卡槽200，第二卡槽200的长度为Q，第二卡槽200满足第二关系式：Q=M+N-P；

其中，M是面板卡扣600的厚度，N是面板卡扣600的高度，P是面板卡扣600高度的公差的绝对值。

将需要检验的面板卡扣600经过第一卡槽100的检验可以进入第一卡槽100，表示面板卡扣600的高度不会过高，然后将面板卡扣600通过第二卡槽200进行检验，如果面板卡扣600没能进入第二卡槽200，也就是说面板卡扣600的实际高度N1满足：N+P＞N1＞N-P；也就是说面板卡扣600的实际高度与面板卡扣600的标准高度之差在公差范围内。从而验证了面板卡扣600的高度符合标准。