[实用新型]窄线宽激光器线宽高精度测量系统

权利要求书

1.一种窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：包括第一光耦合器（2）与第二光耦合器（4），所述第一光耦合器（2）具有a、b、c、d四个端口，所述第二光耦合器（4）具有e、f、g三个端口；所述第一光耦合器（2）的a端口与待测激光光源（1）相连，其b端口通过光电探测器（7）与信号接收单元（8）相连，其c端口通过隔离器（3）与所述第二光耦合器（4）的f端口相连，其d端口与所述第二光耦合器（4）的e端口相连；所述第二光耦合器（4）的g端口经光纤延迟线（5）与反射面（6）相连；由所述反射面（6）外腔反馈而两次经过所述光纤延迟线（5）的光经所述第二光耦合器（4）的g端口与其f端口的光产生拍频信号，该拍频信号经所述第一光耦合器（2）的b端口输出，并由所述光电探测器（7）转换为电流信号，该电流信号由所述信号接收单元（8）接收并获得相应的洛伦兹线形的光电流谱线；所述光电流谱线的半高宽即为所述待测激光光源（1）的线宽。

2.按照权利要求1所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述反射面（6）为耦合器二输出端融合形成的环形镜构成的反射面。

3.按照权利要求1所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述反射面（6）为具有反射特性的马赫曾德干涉器、法布里-泊罗干涉仪或萨格奈克干涉仪。

4.按照权利要求1所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述反射面（6）为一八度角APC跳线头与一陶瓷套管表面黏贴介质膜构成的外腔。

5.按照权利要求1所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述反射面（6）为一平角PC跳线头与一陶瓷套管表面黏贴介质膜构成具有一定反射率的法布里珀罗腔构成的外腔。

6.按照权利要求1所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述反射面（6）为表面涂有介质膜的裸光纤平切面。

7.按照权利要求4或5或6所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述介质膜为非金属介质膜或金属介质膜；所述非金属介质膜的材料为石墨烯或碳化硅，所述金属介质膜的材料包括金、银、铜、铁、铝或锌。

8.按照权利要求7所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述介质膜为采用电镀、化学镀、脉冲激光沉积、化学气相沉积、分子束外延、溶胶凝胶、磁控溅射、氧化法、离子注入法、扩散法、电镀法、涂布法或液相生成法通过镀膜方法获得。

9.按照权利要求1所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述信号接收单元（8）采用频谱分析仪、示波器或数据采集卡。

10.按照权利要求1所述的窄线宽激光器线宽高精度测量系统，其特征是：所述第一光耦合器（2）与所述隔离器（3）之间加入一个声光移频器，实现自外差法测量激光线宽系统。