[实用新型]履带张紧装置的测试系统及履带行走机构有效
申请号: | 201320877581.8 | 申请日: | 2013-12-26 |
公开(公告)号: | CN203772555U | 公开(公告)日: | 2014-08-13 |
发明(设计)人: | 李青;潘爱国;陈东坡 | 申请(专利权)人: | 北京市三一重机有限公司 |
主分类号: | G01M17/03 | 分类号: | G01M17/03 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102206 北京市昌平*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 履带 装置 测试 系统 行走 机构 | ||
技术领域
本实用新型涉及信号测试领域,特别涉及履带张紧装置的测试系统及履带行走机构。
背景技术
履带张紧装置是履带行走机构的一个重要组成部分,它的性能好坏对履带式车辆的行驶性能有很大影响,若调整不当,在使用过程中容易出现行进减速机卡滞、跳齿现象,因此如何准确测试履带张紧装置有很重要意义。
目前常规测试手段如图1所示,首先将机械开到平坦的地面上,在引导轮和托带轮之间的履带板上放置一直木板条1,测试木板条1与履带下垂点A之间的距离并对张紧油缸进行调整。
上述测试方式存在以下缺点:
1)测试手段较为落后,受外界因素干扰较大,测试精度低;
2)测试数据不能够保存,后期数据处理存在困难。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型提出一种履带张紧装置的测试系统及履带行走机构,以提高测试精度且为后续分析处理提供基础。
一方面,提供一种履带张紧装置的测试系统,包括:用于感测履带张紧装置中张紧弹簧的位移量的位移传感器、信号采集卡、以及用于对所述信号采集卡传送的信号进行处理的测试装置;所述位移传感器安装在履带导向轮轴上;所述位移传感器与所述信号采集卡信号连接,所述信号采集卡与所述测试装置信号连接。
进一步地,所述信号采集卡为NI(National Instruments,美国国家仪器公司)数据采集卡。
进一步地,所述位移传感器的数量为多个,均与所述NI数据采集卡信号连接。
进一步地,所述测试装置包括存储单元、滤波单元及显示单元中的至少一个。
进一步地,所述位移传感器包括电感式位移传感器。
另一方面,提供一种履带行走机构,包括履带张紧装置,还设置有上述的履带张紧装置的测试系统。
进一步地,所述履带张紧装置还包括与所述张紧弹簧连接的张紧油缸。
本实用新型履带张紧装置的测试系统及履带行走机构通过将位移传感器安装在与张紧弹簧直接连接的导向轮轴上,能够直接测试底盘行进过程中张紧弹簧的伸缩量,并利用高精度的位移传感器结合信号采集卡,实现高精度的测试功能,测试结果准确,不易受外部因素干扰;且测试装置可与信号采集卡无缝连接,实现高频率采集,能对数据存储和后期数据分析。
附图说明
构成本实用新型的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1为现有履带张紧装置的测试手段的示意图;
图2为本实用新型实施例提供的履带张紧装置的测试系统的结构框图;
图3为本实用新型实施例提供的履带行走机构的部分结构示意图。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。
图2为本实用新型实施例提供的履带张紧装置的测试系统的结构框图;图3为本实用新型实施例提供的履带行走机构的部分结构示意图,如图2及图3所示,用于感测履带张紧装置中张紧弹簧的位移量的位移传感器10、信号采集卡11、以及用于对所述信号采集卡11传送的信号进行处理的测试装置12;所述位移传感器10安装在履带导向轮轴20上;所述位移传感器10与所述信号采集卡11信号连接,所述信号采集卡11与所述测试装置12信号连接。
具体操作时,所述信号采集卡11可以为NI采集卡。所述位移传感器10可以为电感式位移传感器,当然还可以是其他的高精度传感器。所述测试装置12包括存储单元、滤波单元及显示单元中的至少一个。该测试装置12还可以包括用于对信号采集卡11传送的数据进行后期分析处理的处理单元,该处理单元(滤波单元)可以为基于labvIEW(Laboratory Virtual Instrumentation Engineering Workbench,实验室虚拟仪器工程平台)编写的上位机软件。显示单元可以用于对信号采集卡11传送的数据进行回放。所述位移传感器10的数量为多个(同时对多个底盘上的履带张紧装置进行测量),均与所述NI数据采集卡信号连接,即多个位移传感器10与NI数据采集卡的多个通道对应连接,可实现多通道同时采集,最多可实现32通道数据同时采集,功能强大。所述测试装置12可适用于不同种类的位移传感器10开发,即可根据测试需求,开发不同上位机软件搭载多种传感器进行测试。
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