[实用新型]一种检测LED电源驱动性能稳定性的老化测试装置有效
申请号: | 201320884866.4 | 申请日: | 2013-12-30 |
公开(公告)号: | CN203630322U | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 方彬辉 | 申请(专利权)人: | 佛山冠今光电科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/40 | 分类号: | G01R31/40 |
代理公司: | 广州圣理华知识产权代理有限公司 44302 | 代理人: | 陈业胜;张春耀 |
地址: | 528200 广东省佛*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 led 电源 驱动 性能 稳定性 老化 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于LED电源驱动产品老化技术领域,具体涉及一种检测LED电源驱动性能稳定性的老化测试装置。
背景技术
LED行业目前发展迅速,其应用大到楼宇智能LED照明系统,小到LED手电筒、指示灯等,LED产品已逐渐走入社会的各个角落,但LED产品的失效机理一直是困扰LED产品品质提高的一个因素。在设计、制造、安装、应用等各个环节中,LED的可靠性问题一直是困扰业界的难题。在照明、显示设备等应用场合,LED装置往往由多颗LED构成,其电性能稳定性、光色性能衰减一致性及使用寿命要求都非常高,而在长期通电工作后,各单颗LED的色温、显色性、色纯度、光谱分布、出光均匀性和照度等特性都将随使用时间而发生变化。另外,安装初期使用正常的LED,通电工作一点时间后,会出现一定暗光、闪动、故障、间断亮等不良现象,给产品使用推广带来巨大的负面影响。因而,为能及时、快速、有效地剔除存在缺陷隐患的产品,除了需要保证良好的生产工艺和正确的使用操作之外,还需要在成品应用前通过早期的测验筛选,寿命分析,这是LED产品可靠性的重要保证。
老化测试系统是LED老化试验、寿命测试分析等测验的重要组成部分,所谓老化试验,是对灯具整体性能稳定性的评估,主要包括电性,光学,散热等方面检测,一般检测需要定义检测时间周期,一般老化8小时,如果是新产品需要制定检测时间,如300小时,500小时,1000小时,3000小时,6000小时分别根据不同时间测试,根据测试结果判定产品性能的稳定性,并根据相关的标准确定产品设计是否符合标准。
传统的老化电源驱动是以产品输出的电压、电流、功率,进行计算得到一个等效的电阻负载(又称假负载)。目前LED电源生产公司大部分用假负载来模拟LED模组做电源产品的老化测验,用这种老化方式对于LED驱动,在老化时必须先将LED驱动接通交流电源后再连接水泥电阻,LED驱动因为大部分是恒流工作模式,在空载时输出电压有的就比较高,会超出安全电压范围,这样就存在安全隐患,在批量操作时老化测试人员操作不当就会有生命危险。如果购买市面上的电子老化负载价格昂贵,成本高体积大。因为普通的电源是工作在恒压模式,可以正常开机启动。LED驱动的工作模式是恒流模式,在LED驱动启动工作的瞬间,只用一个电阻假负载时,LED驱动输出的电压满足不了LED驱动从开机的启动模式转向正常恒流工作模式。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,解决LED驱动老化不能带假负载启动的问题,并设计一种安全有效、用于检测LED驱动电源性能稳定性的老化测试装置。
为实现本实用新型目的所采用的技术方案为:一种检测LED电源驱动性能稳定性的老化测试装置,包括电压钳位电路、功率开关驱动及保护电路、功率开关器件和LED模组等效负载;所述电压钳位电路用于与LED电源驱动的输出回路连接,电压钳位电路由若干稳压管和第一电阻依次连接组成;所述功率开关器件为功率开关管,功率开关管与LED模组等效负载连接;在第一电阻和稳压管之间设置一接点,该接点为功率开关管提供通导的电压和电流。该电压和电流通过功率开关驱动及保护电路给功率开关管的G、S极之间的层间电容充电,在该层间电容的充电时间内使具有原边反馈的LED电源驱动从接通电源启动时的电压上升到LED电源驱动正常工作的电压,此时第一电阻和稳压管之间接点处的电压达到功率开关管导通所需电压。
优选的,所述LED模组等效负载为水泥电阻。
优选的,所述水泥电阻的额定功率为LED电源驱动输出功率的至少1倍。
优选的,所述水泥电阻的额定功率为LED电源驱动输出功率的至少2倍。
优选的,所述水泥电阻的额定功率为LED电源驱动输出功率的至少3倍。
优选的,所述水泥电阻的额定功率为LED电源驱动输出功率的至少4倍。
优选的,所述功率开关及保护电路包括单向通导的二极管和第二电阻。
优选的,还包括与LED模组等效负载并联连接的工作状态指示电路,工作状态指示电路包括依次连接的LED指示灯和第三电阻。
有益效果:采用实用新型的老化测试装置,成本低,操作方便。LED驱动在老化时接上本实用新型的老化测试装置后可以直接老化,不需要将LED驱动先空载再去接负载,可以解决以上安全隐患问题。
附图说明
图1为本实用新型老化测试系统的电路结构框架原理图
图2为本实用新型老化测试系统的电路连接结构示意图
具体实施方式
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