[实用新型]一种裸板测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种半导体器件的电性能测试设备，具体涉及一种裸板测试治具。

背景技术

裸板测试，又称“通断测试”，是在整个电路板制程后质量检验中尤为重要关键的一个环节，因为它是保证客户原始设计网络关系、基本性能实用的电检测试工序。裸板测试治具分单面治具和双面治具，所述PCB板设置在单面治具的下侧，设置在双面治具的中间，可以根据需要对PCB板的一面或者两面进行测试。如图1所示，目前的治具一般包括底座11、贴合在底座11上的弹簧管护板12、设置在弹簧管护板12上的若干平行针板13、支柱14、垫圈15和探针16，所述支柱14依次穿过针板13，垫圈15设置在上下相邻针板13之间，控制上下针板13之间的距离，探针16穿过弹簧管护板12和针板13上的相应针孔穿出，接触到探针16底端的PCB板17，针板13中首层针板与弹簧管护板12相贴合，针板13中末层针板与PCB板17相贴合，为了保证治具强度，保护PCB板不受损伤，因此首层针板和末层针板要求有一定厚度，比其余针板的厚度厚。

因针板11上的弹簧针点阵密度和PCB板上的测试点的密度不同而使得治具的探针14必须有一定的斜率，而首层针板和末层针板又存在一定厚度，因此探针14在首层针板和末层针板时比较困难，在下压治具时，探针14容易偏斜，弯折，影响使用。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是探针穿插困难，为了克服以上不足，提供了一种裸板测试治具。

为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：所述裸板测试治具，包括底座、贴合在底座上的弹簧管护板、贴合在弹簧管护板的首层针板、与PCB板贴合的末层针板、设置在首层针板和末层针板之间的多个中间针板、支柱、垫圈和探针，所述支柱依次穿过首层针板、多个中间针板和末层针板，所述垫圈设置在相邻的首层针板、多个中间针板和末层针板之间，探针依次穿过弹簧管护板、首层针板、多个中间针板和末层针板上的相应针孔，接触到PCB板，所述首层针板和末层针板结构相同，分别包括外围的紧固区和中心的减薄区，所述探针的针孔设置在减薄区内。首层针板和末层针板中心区域减薄，有助于探针顺利穿过。

优选地是，所述减薄区靠近弹簧管护板或PCB板的一面与紧固区齐平，所述减薄区远离弹簧管护板或PCB板的一面低于紧固区。

优选地是，所述首层针板远离弹簧管护板的一面贴合有防护板，所述末层针板远离PCB板的一面贴合有防护板。增加防护板后即满足探针顺利通过又保证了首层针板和末层针板的足够强度，以防下压时压伤PCB板。

优选地是，穿过首层针板和末层针板的支柱设置在相应的紧固区内，与相邻中间针板之间的垫圈设置在相应的紧固区内。

优选地是，所述防护板的厚度为0.3-0.5mm，所述减薄区的厚度为0.5mm，所述紧固区的厚度为2.5-3.0mm，所述中间针板的厚度为1mm。

优选地是，所述首层针板、多个中间针板和末层针板上的针孔逐层变大。这样可以有效防止排布密集的探针受力变形导致相互接触而生锈。

本实用新型提供的技术方案通过首层针板和末层针板减薄并增加相应护板，使得探针可以很顺畅的贯穿各针板，使探针下插更通顺，减少探针弯折的同时提升工作效率。

附图说明

图1是现有技术中裸板检测治具的结构示意图；

图2是实施例1中所述裸板测试治具的结构示意图；

图3是实施例1中所述末层针板的剖视图；

图4是实施例2中所述裸板测试治具的结构示意图。

图中所示：

11-底座，12-弹簧管护板，13-针板，14-支柱，15-垫圈，16-探针，17-PCB板；

21-首层针板，22-第一防护板，23-第一中间针板，24-第二中间针板，25-第四中间针板，26-第二防护板，27-末层针板，271-紧固区，272-减薄区，31-第一垫圈，32-第二垫圈，33-第三垫圈，34-第四垫圈，41-上治具，42-下治具。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作详细描述：

实施例1