[实用新型]一种均匀域测试架有效

专利信息
申请号: 201320890169.X 申请日: 2013-12-31
公开(公告)号: CN203732569U 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 宋国栋;张挺 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人: 张致仁
地址: 110000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 均匀 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及测试架的结构设计和应用领域,特别提供了一种电波暗室内微波均匀域校准测试用均匀域测试架。

背景技术

传统的电波暗室内微波均匀域校准测试过程中,所选的16个测试点都是利用一根测试杆,将探头固定在上面,在电波暗室中标出4个测试点,再利用卷尺量出距地面的高度,再将探头调制相应高度进行测试,这种测试过程中,4各测试点的中心位置即使标注,也容易出现误差,而且每次换测试点时,都需要重新测量高度,程序简单但操作复杂,而且人为误差较大。

人们迫切希望获得一种技术效果优良的均匀域测试架。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种使用方便,误差小的均匀域测试架。

所述均匀域测试架构成如下:轮架1,立柱2,下横梁3,面元4,上横梁5,探头架8,其中,所述轮架1为“工”字形,所述轮架1整体尺寸为长:100cm、宽:67cm、高5cm;参见附图1,轮架1的四角均安装有可转动的转向轮11;方便均匀域测试架的移动和固定,轮架1的中间承重梁上的中间位置设有深3.5cm的立柱槽9,立柱2通过立柱槽9与轮架1连接,所述立柱2的具体为7cmx5cmx273.5cm的长方体。立柱2据底端63.5cm处向上开有“Γ”形槽12,参见附图3,横梁以及测试板的“Γ”形突起13与其嵌套固定。所述下横梁3整体尺寸为204cmx5cmx5cm,下横梁3长度方向一侧设置有整体尺寸是2cmx2cm的阶梯凹槽14,与测试板最底层的面元阵列结构形成探头架的最底层滑道,下横梁3的两侧设置有长度2cm的“Γ”形突起13,下横梁3与立柱2通过“Γ”形突起13和“Γ”形槽12嵌套固定连接,上横梁5的尺寸为182cmx5cmx5cm,参见附图6,所述上横梁5的一侧有长度2cm的“Γ”形突起13,上横梁5与立柱2通过“Γ”形突起13和“Γ”形槽12嵌套固定连接;所述面元4为整体截面呈“工”字形结构,面元4“工”字形的下横的两端设置有方向相反的“Γ”形突起13,参见附图7,面元4之间通过“Γ”形突起13嵌套连接成测试板,整体高度5cm,长横高度3cm,测试板的两侧与立柱2嵌套连接,所述探头架8为“土”字形结构,探头架8可在相邻面元4间移动或固定,探头固定在探头架8上。

所述上横梁5与立柱2连接处设置有堵盖6,参见附图9,所述堵盖6的上部设置有把手15。便于取出插入。

所述均匀域测试架由于本测试架比较高,装配过程应为先将下横梁3与立柱2嵌套安装,接着以下横梁3为基准,逐个将面元4嵌套成阵列分别嵌套在立柱2上,最后安装上横梁,再将整个板立起,将立柱2插入到轮架1上固定,探头架8可以通过开启堵盖6,将其划入到测试板上。

在均匀场校准测试中,探头固定在探头架8上,利用立柱、横梁以及轮架上的标尺,首先确定16个测试点,测试天线按照标准布置在距测试支架3m处,可以方便精确的进行均匀场校准测试。

所述均匀域测试架的测试板采用多个面元嵌套整合而成,组成灵活的滑轨线路,使测试板的测试位置的选取更自由;整个测试架的材料都为酚醛塑料,可以有效解决电磁波的反射折射问题;采用Γ形和反Γ形嵌套结构,是整个测试架虽然由多个装置组成,但结构牢固;面元的工形结构串联与探头架的士字形结构对应,组成通场的滑轨和牢固的探头定位位置,可以实现探头架的自由移动和精确定位;整个系统可以迅速拆解和安装,易于存放和测试;测试板四周都刻有标尺,可以迅速找到预测试点;堵盖可以迅速取下,以方便探头架从测试板的进入和取出;带制动的方向轮可以实现测试架的任意移动和停止。

附图说明

图1是轮架示意图;

图2是立柱主视图;

图3是立柱俯视图;

图4是下横梁示意图;

图5是轮架、立柱和下横梁装配视图;

图6是上横梁示意图;

图7是面元正视图;

图8是面元三维视图;

图9是赌盖示意图;

图10为探头架三维视图;

图11为探头架示意图;

图12为均匀场测试支架整体示意图。

具体实施方式

实施例1

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