[实用新型]一种抗单粒子效应的电流镜有效

专利信息
申请号: 201320894188.X 申请日: 2013-12-30
公开(公告)号: CN203719714U 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 徐江涛;贾文龙;高静;史再峰;姚素英 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01F3/26 分类号: G01F3/26
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 杜文茹
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 粒子 效应 电流
【权利要求书】:

1.一种抗单粒子效应的电流镜,包括有第一NMOS管M1和第二NMOS管M2,其中,所述的第一NMOS管M1的栅极和第二NMOS管M2的栅极相连,第一NMOS管M1的源极和第二NMOS管M2的源极接地,第一NMOS管M1的漏极连接所述该第一NMOS管M1的栅极以及连接基准电流Iref,其特征在于,所述的第二NMOS管M2的漏极分别连接负载(C)和用于消除单粒子效应对负载(C)影响的辅助电路(B)。

2.根据权利要求1所述的一种抗单粒子效应的电流镜,其特征在于,所述的辅助电路(B)包括有第一PMOS管M4、第二PMOS管M5和第三NMOS管M3,所述第一PMOS管M4的漏极连接第二NMOS管M2的漏极,第一PMOS管M4的源极和第二PMOS管M5的源级接电源VDD,第一PMOS管M4的栅极与第二PMOS管M5的栅极相连,第二PMOS管M5的漏极连接该第二PMOS管M5的栅极,第二PMOS管M5的漏极还连接第三NMOS管M3的漏极,第三NMOS管M3的源极和栅极均接地。

3.根据权利要求2所述的一种抗单粒子效应的电流镜,其特征在于,所述的辅助电路的第三NMOS管M3与第二NMOS管M2尺寸相同,且版图设计使用共质心布局,并使第三NMOS管M3与第二NMOS管M2的漏极相接近。

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