[发明专利]触摸检测方法及装置

权利要求书

1.一种触摸检测方法，其特征在于，包括：

获得触摸点的关联点的坐标；

获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值；

基于所述关联点的坐标和所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值，确定所述触摸点的待定坐标值；

根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值；所述触摸点的个数为两个；所述触摸点的待定坐标值包括两组待定坐标值，每组待定坐标值包括两个触摸点的待定坐标值；

所述根据所述待定坐标值确定所述触摸点的实际坐标值包括：根据第一阻性层或第二阻性层上两个电极的电压的大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值，所述第一阻性层上两个电极的电压为所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的两个电极的电压，所述第二阻性层上两个电极的电压为所述触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的两个电极的电压。

2.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，还包括：比较两组所述触摸点的实际坐标值，产生指示信号。

3.如权利要求2所述的触摸检测方法，其特征在于，所述比较两组所述触摸点的实际坐标值，产生指示信号包括：比较两组所述触摸点的实际坐标值以确定触摸变化，产生对应的指示信号，所述触摸变化包括触摸点的角度变化和距离变化中的至少一个。

4.如权利要求2所述的触摸检测方法，其特征在于，所述指示信号至少包括指示执行放大、缩小、旋转、翻页、前进、后退、加快、减慢、弹出当前状态的快捷菜单中的一种操作。

5.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述触摸点的个数为两个，所述关联点的坐标包括第一轴坐标和第二轴坐标；

所述关联点的第一轴坐标根据第一坐标和第二坐标中的至少一个获得，所述第一坐标与触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的一个电极的电压相关，所述第二坐标与所述触摸屏的第一阻性层偏置时第二阻性层上的另一个电极的电压相关；

所述关联点的第二轴坐标根据第三坐标和第四坐标中的至少一个获得，所述第三坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的一个电极的电压相关，所述第四坐标与所述触摸屏的第二阻性层偏置时第一阻性层上的另一个电极的电压相关。

6.如权利要求5所述的触摸检测方法，其特征在于，将阻性层偏置包括：对所述阻性层上的一个电极施加第一电压，对所述阻性层上的另一个电极施加第二电压，所述第一电压的电压值大于所述第二电压的电压值。

7.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述触摸点的个数为两个；所述获得所述触摸点之间在被测轴方向上的距离值包括：

分别测量两个阻性层的外接电阻上的电压或电流，或者分别测量两个阻性层上的电极之间的电流或电压，以获得所述触摸屏在对应轴方向上的电阻变化值；

基于所述触摸屏在第一轴和第二轴方向上的电阻变化值确定在对应轴方向上所述两个触摸点的距离值。

8.如权利要求7所述的触摸检测方法，其特征在于，

所述触摸屏在对应轴方向上的电阻变化值为触摸时所述触摸屏在对应轴方向上的电阻值与无触摸时所述触摸屏在对应轴方向上的电阻值的差值；所述触摸时所述触摸屏在对应轴方向上的电阻值通过测量对应阻性层的外接电阻上的电压或电流相关获得，或者通过测量对应阻性层上电极之间的电流或电压获得。

9.如权利要求7所述的触摸检测方法，其特征在于，所述基于所述触摸屏在第一轴和第二轴方向上的电阻变化值确定在对应轴方向上所述两个触摸点的距离值包括：

基于

计算在第一轴方向上所述两个触摸点的距离值Δx，其中，ΔRx为所述触摸屏在所述第一轴方向上的电阻变化值，Kx、Ky分别为两个阻性层的电阻率，rt为所述触摸屏上单点接触电阻值；

基于

计算在第二轴方向上所述两个触摸点的距离值Δy，其中，ΔRy为所述触摸屏在所述第二轴方向上的电阻变化值。

10.如权利要求1所述的触摸检测方法，其特征在于，所述根据第一阻性层或第二阻性层上两个电极的电压的大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值包括：

在所述第一阻性层上两个电极的电压差值大于所述第二阻性层上两个电极的电压差值时，根据所述第一阻性层上两个电极的电压大小关系选择一组待定坐标值作为所述两个触摸点的实际坐标值。